| 國立交通大學 |
2019-04-02T05:58:23Z |
Measurement of the Electron Antineutrino Oscillation with 1958 Days of Operation at Daya Bay
|
Adey, D.; An, F. P.; Balantekin, A. B.; Band, H. R.; Bishai, M.; Blyth, S.; Cao, D.; Cao, G. F.; Cao, J.; Chan, Y. L.; Chang, J. F.; Chang, Y.; Chen, H. S.; Chen, S. M.; Chen, Y.; Chen, Y. X.; Cheng, J.; Cheng, Z. K.; Cherwinka, J. J.; Chu, M. C.; Chukanov, A.; Cummings, J. P.; Deng, F. S.; Ding, Y. Y.; Diwan, M., V; Dolgareva, M.; Dwyer, D. A.; Edwards, W. R.; Gonchar, M.; Gong, G. H.; Gong, H.; Gu, W. Q.; Guo, L.; Guo, X. H.; Guo, Y. H.; Guo, Z.; Hackenburg, R. W.; Hans, S.; He, M.; Heeger, K. M.; Heng, Y. K.; Higuera, A.; Hsiung, Y. B.; Hu, B. Z.; Hu, J. R.; Hu, T.; Hu, Z. J.; Huang, H. X.; Huang, X. T.; Huang, Y. B.; Huber, P.; Huo, W.; Hussain, G.; Jaffe, D. E.; Jen, K. L.; Ji, X. L.; Ji, X. P.; Johnson, R. A.; Jones, D.; Kang, L.; Kettell, S. H.; Koerner, L. W.; Kohn, S.; Kramer, M.; Langford, T. J.; Lebanowski, L.; Lee, J.; Lee, J. H. C.; Lei, R. T.; Leitner, R.; Leung, J. K. C.; Li, C.; Li, F.; Li, H. L.; Li, Q. J.; Li, S.; Li, S. C.; Li, S. J.; Li, W. D.; Li, X. N.; Li, X. Q.; Li, Y. F.; Li, Z. B.; Liang, H.; Lin, C. J.; Lin, G. L.; Lin, S.; Lin, S. K.; Lin, Y-C; Ling, J. J.; Link, J. M.; Littenberg, L.; Littlejohn, B. R.; Liu, J. C.; Liu, J. L.; Liu, Y.; Liu, Y. H.; Loh, C. W.; Lu, C.; Lu, H. Q.; Lu, J. S.; Luk, K. B.; Ma, X. B.; Ma, X. Y.; Ma, Y. Q.; Malyshkin, Y.; Marshall, C.; Caicedo, D. A. Martinez; McDonald, K. T.; McKeown, R. D.; Mitchell, I; Mora Lepin, L.; Napolitano, J.; Naumov, D.; Naumova, E.; Ochoa-Ricoux, J. P.; Olshevskiy, A.; Pan, H-R; Park, J.; Patton, S.; Pec, V; Peng, J. C.; Pinsky, L.; Pun, C. S. J.; Qi, F. Z.; Qi, M.; Qian, X.; Qiu, R. M.; Raper, N.; Ren, J.; Rosero, R.; Roskovec, B.; Ruan, X. C.; Steiner, H.; Sun, J. L.; Tang, W.; Taychenachev, D.; Treskov, K.; Tse, W-H; Tull, C. E.; Viren, B.; Vorobel, V.; Wang, C. H.; Wang, J.; Wang, M.; Wang, N. Y.; Wang, R. G.; Wang, W.; Wang, X.; Wang, Y. F.; Wang, Z.; Wang, Z. M.; Wei, H. Y.; Wei, L. H.; Wen, L. J.; Whisnant, K.; White, C. G.; Wise, T.; Wong, H. L. H.; Wong, S. C. F.; Worcester, E.; Wu, Q.; Wu, W. J.; Xia, D. M.; Xing, Z. Z.; Xu, J. L.; Xue, T.; Yang, C. G.; Yang, H.; Yang, L.; Yang, M. S.; Yang, M. T.; Yang, Y. Z.; Ye, M.; Yeh, M.; Young, B. L.; Yu, H. Z.; Yu, Z. Y.; Yue, B. B.; Zeng, S.; Zhan, L.; Zhang, C.; Zhang, C. C.; Zhang, F. Y.; Zhang, H. H.; Zhang, J. W.; Zhang, Q. M.; Zhang, R.; Zhang, X. F.; Zhang, X. T.; Zhang, Y. M.; Zhang, Y. X.; Zhang, Y. Y.; Zhang, Z. J.; Zhang, Z. P.; Zhang, Z. Y.; Zhao, J.; Zheng, P.; Zhou, L.; Zhuang, H. L.; Zou, J. H. |
