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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	1999-08	Effect of substrate bias on the performance and reliability of the split-gate source-side injected flash memory	Huang, Kuo-Ching; Fang, Yean-Kuen; Yaung, Dun-Nian; Chen, Chii-Wen; Sung, Hung-Cheng; Kuo, Di-Son; Wang, C. S.; Liang, Mong-Song
國立成功大學	1999-06-24	Improved programming performance of EEPROM/flash cell using post-poly-Si gate N2O annealing	Huang, Kuo-Ching; Fang, Yean-Kuen; Yaung, Dun-Nian; Kuo, Dison; Wang, ChungS.; Liang, Mong-Song

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