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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2014-12-08T15:25:40Z 3-D simulation on current density distribution in flip-cbip solder joints with thick CuUBM under current stressing Liang, SW; Shao, TL; Chen, C
國立交通大學 2014-12-08T15:25:35Z Electromigration in eutectic SnPb solder bumps with Ni/Cu UBM Chiu, SH; Liang, SW; Chen, C; Lin, SS; Chou, CM; Liu, YC; Chen, KH
國立交通大學 2014-12-08T15:17:41Z Relieving the current crowding effect in flip-chip solder joints during current stressing Liang, SW; Shao, TL; Chen, C; Yeh, ECC; Tu, KN
國立交通大學 2014-12-08T15:17:09Z Redistribution of Pb-rich phase during electromigration in eutectic SnPb solder stripes Chou, CK; Chen, CA; Liang, SW; Chen, C
國立交通大學 2014-12-08T15:16:48Z Effect of Al-trace dimension on Joule heating and current crowding in flip-chip solder joints under accelerated electromigration Liang, SW; Chang, YW; Chen, C
國立交通大學 2014-12-08T15:16:40Z Temperature and current-density distributions in flip-chip solder joints with Cu traces Hsu, CY; Yao, DJ; Liang, SW; Chen, C; Yeh, ECC

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