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國立成功大學	2008-11-07	高介電係數金氧半電晶體及低溫多晶矽薄膜電晶體之閘極引發汲極漏電流及偏壓溫度不穩定性可靠度之研究	廖竟淇; Liao, Jing-Chyi
國立成功大學	2008-11-07	高介電係數金氧半電晶體及低溫多晶矽薄膜電晶體之閘極引發汲極漏電流及偏壓溫度不穩定性可靠度之研究	廖竟淇; Liao, Jing-chyi
國立成功大學	2008-04	Observation of reliability of HfZrOX gate dielectric devices with different Zr/Hf ratios	Liao, Jing-Chyi; Fang, Yean-Kuen; Hou, Yong Tian; Tseng, Wei Hsiung; Yang, Chih I.; Hsu, Peng Fu; Chao, Yuen Shun; Lin, Kang Cheng; Huang, Kuo Tai; Lee, Tzu Liang; Liang, Meng Sung

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