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機構	日期	題名	作者
國立臺灣大學	2004	Growth-Then-Anodization Technique for Reliable Ultrathin Gate Oxides	Liao, Wei-Jian; Yang, Yi-Lin; Chuang, Shun-Cheng; Hwu, Jenn-Gwo
國立臺灣大學	2003	Thickness-Dependent Stress Effect in P-type Metal-Oxide-Semiconductor Structure Investigated by Substrate Injection Current	Hong, Chao-Chi; Liao, Wei-Jian; Hwu, Jenn-Gwo

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