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| 臺大學術典藏 |
2022-06-30T02:06:08Z |
Oxidation-boosted charge trapping in ultra-sensitive van der Waals materials for artificial synaptic features
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Yang F.-S.; Li M.; Lee M.-P.; Ho I.-Y.; Chen J.-Y.; Ling H.; Li Y.; Chang J.-K.; Yang S.-H.; Chang Y.-M.; Lee K.-C.; Chou Y.-C.; Ho C.-H.; Li W.; Lien C.-H.; Lin Y.-F.; Yang F.-S.; Chou Y.-C; YI-CHIA CHOU |
| 臺大學術典藏 |
2022-06-30T02:06:07Z |
Defect Engineering in Ambipolar Layered Materials for Mode-Regulable Nociceptor
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Li M.; Yang F.-S.; Hsu H.-C.; Chen W.-H.; Kuo C.N.; Chen J.-Y.; Yang S.-H.; Yang T.-H.; Lin C.-Y.; Chou Y.; Lee M.-P.; Chang Y.-M.; Yang Y.-C.; Lee K.-C.; Chou Y.-C.; Lien C.-H.; Lin C.-L.; Chiu Y.-P.; Lue C.S.; Lin S.-P.; Lin Y.-F.; Li M.; Chou Y.-C.; YI-CHIA CHOU |
| 國立成功大學 |
2021 |
Prevalence and Effect of Cerebral Small Vessel Disease in Stroke Patients With Aspirin Treatment Failure–A Hospital-Based Stroke Secondary Prevention Registry
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Chou, P.-S.;Sung, P.-S.;Liu, C.-H.;Sung, Y.-F.;Tzeng, R.-C.;Yang, C.-P.;Lien, C.-H.;Po, H.L.;Ho, S.-C.;Tsai, Y.-T.;Chen, T.-S.;Wu, S.-L.;Hu, Hu H.-H.;Chao, A.-C. |
| 國立成功大學 |
2021 |
Event and city image: the effect on revisit intention
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Li, H.;Lien, C.-H.;Wang, S.W.;Wang, T.;Dong, W. |
| 臺大學術典藏 |
2020-06-16T06:38:43Z |
The yuan-tseh lee array for microwave background anisotropy
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Ho, P.T.P.;Altamirano, P.;Chang, C.-H.;Chang, S.-H.;Chang, S.-W.;Chen, C.-C.;Chen, K.-J.;Chen, M.-T.;Han, C.-C.;Ho, W.M.;Huang, Y.-D.;Hwang, Y.-J.;Ib?ez-Romano, F.;Jiang, H.;Koch, P.M.;Kubo, D.Y.;Li, C.-T.;Lim, J.;Lin, K.-Y.;Liu, G.-C.;Lo, K.-Y.;Ma, C.-J.;Martin, R.N.;Martin-Cocher, P.;Molnar, S.M.;Ng, K.-W.;Nishioka, H.;O'Connell, K.E.;Oshiro, P.;Patt, F.;Raffin, P.;Umetsu, K.;Wei, T.;Wu, J.-H.P.;Chiueh, T.-D.;Chiueh, T.;Chu, T.-H.;Huang, C.-W.L.;Hwang, W.Y.P.;Liao, Y.-W.;Lien, C.-H.;Wang, F.-C.;Wang, H.;Wei, R.-M.;Yang, C.-H.;Kesteven, M.;Kingsley, J.;Sinclair, M.M.;Wilson, W.;Birkinshaw, M.;Liang, H.;Lancaster, K.;Park, C.-G.;Pen, U.-L.;Peterson, J.B.; Ho, P.T.P.; Altamirano, P.; Chang, C.-H.; Chang, S.-H.; Chang, S.-W.; Chen, C.-C.; Chen, K.-J.; Chen, M.-T.; Han, C.-C.; Ho, W.M.; Huang, Y.-D.; Hwang, Y.-J.; Ib?ez-Romano, F.; Jiang, H.; Koch, P.M.; Kubo, D.Y.; Li, C.-T.; Lim, J.; Lin, K.-Y.; Liu, G.-C.; Lo, K.-Y.; Ma, C.-J.; Martin, R.N.; Martin-Cocher, P.; Molnar, S.M.; Ng, K.-W.; Nishioka, H.; O'Connell, K.E.; Oshiro, P.; Patt, F.; Raffin, P.; Umetsu, K.; Wei, T.; Wu, J.-H.P.; Chiueh, T.-D.; Chiueh, T.; Chu, T.-H.; Huang, C.-W.L.; Hwang, W.Y.P.; Liao, Y.-W.; Lien, C.-H.; Wang, F.-C.; Wang, H.; Wei, R.-M.; Yang, C.-H.; Kesteven, M.; Kingsley, J.; Sinclair, M.M.; Wilson, W.; Birkinshaw, M.; Liang, H.; Lancaster, K.; Park, C.-G.; Pen, U.-L.; Peterson, J.B.; TZI-DAR CHIUEH |
| 臺大學術典藏 |
2020-06-04T07:53:25Z |
The yuan-tseh lee array for microwave background anisotropy
|
Chiueh, T.-D.; Chiueh, T.; Chu, T.-H.; Huang, C.-W.L.; Hwang, W.Y.P.; Liao, Y.-W.; Lien, C.-H.; Wang, F.-C.; Wang, H.; Wei, R.-M.; Yang, C.-H.; Kesteven, M.; Kingsley, J.; Sinclair, M.M.; Wilson, W.; Birkinshaw, M.; Liang, H.; Lancaster, K.; Park, C.-G.; Pen, U.-L.; Peterson, J.B.; HUEI WANG; Ho, P.T.P.;Altamirano, P.;Chang, C.-H.;Chang, S.-H.;Chang, S.-W.;Chen, C.-C.;Chen, K.-J.;Chen, M.-T.;Han, C.-C.;Ho, W.M.;Huang, Y.-D.;Hwang, Y.-J.;Ib?ez-Romano, F.;Jiang, H.;Koch, P.M.;Kubo, D.Y.;Li, C.-T.;Lim, J.;Lin, K.-Y.;Liu, G.-C.;Lo, K.-Y.;Ma, C.-J.;Martin, R.N.;Martin-Cocher, P.;Molnar, S.M.;Ng, K.-W.;Nishioka, H.;O'Connell, K.E.;Oshiro, P.;Patt, F.;Raffin, P.;Umetsu, K.;Wei, T.;Wu, J.-H.P.;Chiueh, T.-D.;Chiueh, T.;Chu, T.-H.;Huang, C.-W.L.;Hwang, W.Y.P.;Liao, Y.-W.;Lien, C.-H.;Wang, F.-C.;Wang, H.;Wei, R.-M.;Yang, C.-H.;Kesteven, M.;Kingsley, J.;Sinclair, M.M.;Wilson, W.;Birkinshaw, M.;Liang, H.;Lancaster, K.;Park, C.-G.;Pen, U.-L.;Peterson, J.B.; Ho, P.T.P.; Altamirano, P.; Chang, C.-H.; Chang, S.-H.; Chang, S.-W.; Chen, C.-C.; Chen, K.-J.; Chen, M.-T.; Han, C.-C.; Ho, W.M.; Huang, Y.-D.; Hwang, Y.-J.; Ib?ez-Romano, F.; Jiang, H.; Koch, P.M.; Kubo, D.Y.; Li, C.-T.; Lim, J.; Lin, K.-Y.; Liu, G.-C.; Lo, K.-Y.; Ma, C.-J.; Martin, R.N.; Martin-Cocher, P.; Molnar, S.M.; Ng, K.-W.; Nishioka, H.; O'Connell, K.E.; Oshiro, P.; Patt, F.; Raffin, P.; Umetsu, K.; Wei, T.; Wu, J.-H.P. |
| 國立臺灣科技大學 |
2020 |
Inverse paired-pulse facilitation in neuroplasticity based on interface-boosted charge trapping layered electronics
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Lee, K.-C.;Li, M.;Chang, Y.-H.;Yang, S.-H.;Lin, C.-Y.;Chang, Y.-M.;Yang, F.-S.;Watanabe, K.;Taniguchi, Taniguchi T.;Ho, C.-H.;Lien, C.-H.;Lin, S.-P.;Chiu, P.-W.;Lin, Y.-F. |
| 國立臺灣科技大學 |
2020 |
Oxidation-boosted charge trapping in ultra-sensitive van der Waals materials for artificial synaptic features
|
Yang, F.-S.;Li, M.;Lee, M.-P.;Ho, I.-Y.;Chen, J.-Y.;Ling, H.;Li, Y.;Chang, J.-K.;Yang, S.-H.;Chang, Y.-M.;Lee, K.-C.;Chou, Y.-C.;Ho, C.-H.;Li, W.;Lien, C.-H.;Lin, Y.-F. |
| 國立成功大學 |
2020 |
Improving a-InGaZnO TFTs Reliability by Optimizing Electrode Capping Structure under Negative Bias Illumination Stress
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Tu, Y.-F.;Lu, I.-N.;Chen, H.-C.;Su, W.-C.;Hung, Y.-H.;Zhou, K.-J.;Zheng, Y.-Z.;Sun, L.-C.;Shih, Y.-S.;Chen, J.-J.;Lien, C.-Y.;Huang, Huang H.-C.;Lien, C.-H.;Chang, T.-C. |
| 國立成功大學 |
2020 |
Abnormal threshold voltage shift caused by trapped holes under hot-carrier stress in a-IGZO TFTs
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Shao, J.;Su, W.-C.;Chang, T.-C.;Chen, H.-C.;Zhou, K.-J.;Lu, I.-N.;Tu, Y.-F.;Shih, Y.-S.;Tsai, Tsai T.-M.;Lien, C.-H.;Yang, J.;Zhang, Q. |
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