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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2019-04-02T05:59:32Z An extraction method to determine interconnect parasitic parameters Chao, CJ; Wong, SC; Chen, MJ; Liew, BK
國立交通大學 2014-12-08T15:47:25Z An extraction method to determine interconnect parasitic parameters Chao, CJ; Wong, SC; Chen, MJ; Liew, BK
國立交通大學 2014-12-08T15:44:34Z Hot carrier reliability improvement by utilizing phosphorus transient enhanced diffusion for input/output devices of deep submicron CMOS technology Wang, HCH; Diaz, CH; Liew, BK; Sun, JYC; Wang, TH
國立交通大學 2014-12-08T15:42:55Z Arsenic/phosphorus LDD optimization by taking advantage of phosphorus transient enhanced diffusion for high voltage input/output CMOS devices Wang, HCH; Wang, CC; Diaz, CH; Liew, BK; Sun, JYC; Wang, TH

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