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| 國立臺灣大學 |
1993-02 |
Test time reduction in scan designed circuits
|
Lai, Wen-Joung; Kung, Chen-Pin; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
多晶片模組設計自動化與測試系統總計劃(I)
|
林呈祥; 郭斯彥; Lin, Chen-Shang; Kuo, Sy-Yen |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
自動設計驗證及測試樣本產生
|
林呈祥; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
非同步電路設計合成之研究(II)
|
龐台銘; 林呈祥; Parng, Tai-Ming; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
On the OBDD-Representation of General Boolean Functions
|
Liaw, H.; 林呈祥; Liaw, H.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
Test Time Reduction in Scan Designed Circuits
|
Lai, W.; Kung, C.; 林呈祥; Lai, W.; Kung, C.; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1993 |
超大型積體電路電腦輔助設計系統I-4:非同步電路
|
林呈祥; Lin, Chen-Shang |
| 淡江大學 |
1992-11-26 |
Test set compaction for combinational circuits
|
張昭憲; Chang, Jau-shien; 林呈祥; Lin, Chen-shang |
| 國立臺灣大學 |
1992-11 |
On the verification of state-coding in STGs
|
Lin, Kuan- Jen; Lin, Chen-Shang |
| 國立臺灣大學 |
1992-11 |
Test set compaction for combinational circuits
|
Chang, Jau-Shien; Lin, Chen-Shang |
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