臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:22:34Z	A systematic estimation model for fraction nonconforming of a wafer in semiconductor manufacturing research	Lin, Jun-Shuw
國立交通大學	2014-12-08T15:22:14Z	A novel design of wafer yield model for semiconductor using a GMDH polynomial and principal component analysis	Lin, Jun-Shuw
國立交通大學	2014-12-08T15:21:07Z	Constructing a yield model for integrated circuits based on a novel fuzzy variable of clustered defect pattern	Lin, Jun-Shuw
國立交通大學	2014-12-08T15:21:03Z	Constructing a yield model for integrated circuits based on a novel fuzzy variable of clustered defect pattern	Lin, Jun-Shuw

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