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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2018-08-21T05:54:20Z	Localized Tunneling Phenomena of Nanometer Scaled High-K Gate-Stack	Lin, Po-Jui Jerry; Lee, Che-An Andy; Yao, Chih-Wei Kira; Lin, Hsin-Jyun Vincent; Watanabe, Hiroshi
國立交通大學	2016-03-28T00:05:42Z	Nano-meter Scaled Gate Area High-K Dielectrics with Trap-Assisted Tunneling and Random Telegraph Noise	Lin, Po-Jui Jerry; Lee, Zhe-An Andy; Yao, Chih-Wei Kira; Lin, Hsin-Jyun Vincent; Watanabe, Hiroshi

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