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國立交通大學	2014-12-08T15:26:32Z	A novel and direct determination of the interface traps in sub-100nm CMOS devices with direct tunneling regime (12 similar to 16A) gate oxide	Chung, SS; Chen, SJ; Yang, CK; Cheng, SM; Lin, SH; Sheng, YC; Lin, HS; Hung, KT; Wu, DY; Yew, TR; Chien, SC; Liou, FT; Wen, F

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