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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2016-09-05	應用陰影疊紋法量測電子元件的翹曲量及系統升溫校正	劉諭勳; LIOU, YU-SYUN
國立成功大學	2016-07-13	應用陰影疊紋法量測電子元件的翹曲量及系統升溫校正	劉諭勳; LIOU, YU-SYUN

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