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机构	日期	题名	作者
國立臺灣大學	2002-03	The roughness-enhanced light emission from metal-oxide-silicon light-emitting diodes using very high vacuum prebake	Lee, M. H.; Chen, K. F.; Lai, C. C.; Liu, C. W.; Pai, W. W.; Chen, Miin-Jang; Lin, Ching-Fuh
國立臺灣大學	2002	The band-edge light emission from the metal-oxide-silicon tunneling diode on (1 1 0) substrates	Chang, S. T.; Chen, K. F.; Shie, C. R.; Liu, C. W.; Chen, Miin-Jang; Lin, Ching-Fuh
國立臺灣大學	2002	A new algorithm for available transfer capability computation	Li, C. -Y.; Liu, C. -W.
國立臺灣大學	2002	Unit commitment by annealing-genetic algorithm	Cheng, C. -P.; Liu, C. -W.; Liu, C. -C.
國立臺灣大學	2002	Energy band structure of strained Si1-xCx alloys on Si (001) substrate	Chang, S. T.; Lin, C. Y.; Liu, C. W.
國立臺灣大學	2002	Roughness- Enhanced Reliability of MOS Tunneling Diodes	Lin, C.-H.; Yuan, F.; Shie, C.-R.; Chen, K.-F.; Hsu, B.-C.; Lee, M.H.; Pai, W.W.; Liu, C.W.
國立臺灣大學	2002	Oxide roughness effect on tunneling current of MOS diodes	Hsu, B.-C.; Chen, K.-F.; Lai, C.-C.; Lee, S.W.; Liu, C.W.
國立臺灣大學	2001-12	Novel photodetectors using metal-oxide-silicon tunneling structures	Hsu, B.C.; Liu, W.T.; Lin, C.H.; Liu, C.W.
國立臺灣大學	2001-12	Oxide roughness enhanced reliability of MOS tunneling diodes	Lin, C.H.; Lee, M.H.; Hsu, B.C.; Chen, K.F.; Shie, C.R.; Liu, C.W.
國立臺灣大學	2001-12	Effect of recombination lifetime and velocity saturation on Ge profile design for the base transit time of Si/SiGe HBTs	Chang, S.T.; Liu, C.W.; Lu, S.C.
國立臺灣大學	2001-12	Optimum Ge profile design for base transit time minimization of SiGe HBT	Chang, S.T.; Liu, C.W.; Lin, C.H.
國立成功大學	2001-11	Characterization and reliability of low dielectric constant fluorosilicate glass and silicon rich oxide process for deep sub-micron device application	Cheng, Y. L.; Wang, Ying-Lang; Liu, C. W.; Wu, Y. L.; Lo, Kuang-Yao; Liu, Chuan-Pu; Lan, J. K.
國立成功大學	2001-11	Integration of MOCVD titanium nitride with collimated titanium and ion metal plasma titanium for 0.18-mu m logic process	Lan, J. K.; Wang, Ying-Lang; Lo, Kuang-Yao; Liu, Chuan-Pu; Liu, C. W.; Wang, JK; Cheng, Y. L.; Chau, C. G.
淡江大學	2001-11	Application of SOM-Based Fuzzy Systems in Voltage Security Margin Estimation	Su, M.C.; Lai, Eugene; Tew, C.Y.; Liu, C.W.; Chang, C.S.
輔英科技大學	2001-09-01	Simulation of Ventilation and Fire in the Underground Facilities	Cheng, L.H.; Liu, C.W. ; Ueng, T.H.
南華大學	2001-07	Bioaccumulation of arsenic in aquacultural large-scale mullet Liza macrolepis from the blackfoot disease area in Taiwan	林明炤;Lin, Ming-Chao;Liao, Chung-Min;Liu, C. W.;Singh, S.
國立臺灣大學	2001-01	Genetic Algorithms as a Reactive Power Source Dispatching Aid for Voltage Security Enhancement	Liu, C.-W.; Chang, C.-S.; Jiang, J.-A.
國立臺灣大學	2001-01	Design, Implementation and Field Tests for Performance Evaluations of a Brand- new Phasor Measurement Unit Based on Global Positioning System	Too, T.-M.; Jiang, J.-A.; Yang, J.-Z.; Lin, Y.-H.; Liu, C.-W.
國立臺灣大學	2001	Carrier lifetime measurement on electroluminescent metal–oxide–silicon tunneling diodes	Chen, Miin-Jang; Lin, Ching-Fuh; Lee, M. H.; Chang, S. T.; Liu, C. W.
國立臺灣大學	2001	Enhanced reliability of electroluminescence from metal–oxide–silicon tunneling diodes by deuterium incorporation	Liu, C. W.; Lin, C.-H.; Lee, M. H.; Chang, S. T.; Liu, Y.-H.; Chen, Miin-Jang; Lin, Ching-Fuh
國立臺灣大學	2001	Visible and band edge electroluminescence from indium tin oxide/SiO2/Si metal–oxide–semiconductor structures	Chen, Miin-Jang; Lin, Ching-Fuh; Liu, W. T.; Chang, S. T.; Liu, C. W.
國立臺灣大學	2001	Reduced temperature dependence of luminescence from silicon due to field-induced carrier confinement	Lin, Ching-Fuh; Chen, Miin-Jang; Liang, Eih-Zhe; Liu, W. T.; Liu, C. W.
國立臺灣大學	2001	Electroluminescence at silicon band gap energy from mechanically pressed indium-tin-oxide/Si contact	Lin, Ching-Fuh; Chen, Miin-Jang; Chang, Shu-Wei; Chung, Peng-Fei; Liang, Eih-Zhe; Su, Ting-Wien; Liu, C. W.
國立臺灣大學	2001	Asymmetrical X-ray reflection of SiGeC/Si heterostructures	Liu, C. W.; Tseng, Y. D.; Chern, M. Y.
國立臺灣大學	2001	Correlation between Si–H?D bond desorption and injected electron energy in metal–oxide–silicon tunneling diodes	Lin, C.-H.; Lee, M. H.; Liu, C. W.

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