臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

关于TAIR
	计画说明

"liu h w chiou s m huang h c go"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序	依日期排序

显示项目 1-1 / 1 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目

机构	日期	题名	作者
東海大學	2011	Superior reliability of gate-all-around polycrystalline silicon thin-film transistors with vacuum cavities next to gate oxide edges	Liu, H.-W., Chiou, S.-M., Huang, H.-C., Gong, J., Wang, F.-H.

显示项目 1-1 / 1 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目

	English \| 正體中文 \| 简体中文 \| 总笔数 :2822924
	造访人次 : 30083793 在线人数 : 1198 教育部委托研究计画计画执行:国立台湾大学图书馆