臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2021-05	Investigation of Degradation Behavior During Illuminated Negative Bias Temperature Stress in P-Channel Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors	Wang;Yu-Xuan;Chang;Ting-Chang;Tai;Mao-Chou;Wu;Chia-Chuan;Tu;Yu-Fa;Chen;Jian-Jie;Huang;Wei-Chen;Shih;Yu-Shan;Chen;Yu-An;Huang;Jen-Wei;Sze;Simon
國立成功大學	2020-12	Suppression of Edge Effect Induced by Positive Gate Bias Stress in Low-Temperature Polycrystalline Silicon TFTs With Channel Width Extension Over Source/Drain Regions	Wang;Yu-Xuan;Tai;Mao-Chou;Chang;Ting-Chang;Huang;Shin-Ping;Zheng;Yu-Zhe;Wu;Chia-Chuan;Shih;Yu-Shan;Chen;Yu-An;Sun;Pei-Jun;Lu;I-Nien;Huang;Hui-Chun;Sze;Simon, M.
國立成功大學	2019-08	Abnormal Unsaturated Output Characteristics In a-InGaZnO TFTs With Light Shielding Layer	Chen;Hong-Chih;Zhou;Kuan-Ju;Chen;Po-Hsun;Chen;Guan-Fu;Huang;Shin-Ping;Chen;Jian-Jie;Kuo;Chuan-Wei;Tsao;Yu-Ching;Tai;Mao-Chou;Chu;An-Kuo;Lai;Wei-Chih;Chang;Ting-Chang
國立成功大學	2018-10-22	Floating top gate-induced output enhancement of a-InGaZnO thin film transistors under single gate operations	Tai;Mao-Chou;Chang;Ting-Chang;Chen;Ming-Chen;Chian;Hsiao-Cheng;Tsao;Yu-Ching;Chien;Yu-Chieh;Wang;Yu-Xuan;Tsai;Yu-Lin;Chen;Jian-Jie;Zhang;Shengdong;Chang;Hsi-Ming

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