臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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國立交通大學	2014-12-12T03:03:11Z	奈米尺寸金氧半場效電晶體通道背向散射:蒙地卡羅模擬與物理模型	呂立方; Li-Fang Lu; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T03:00:27Z	企業實力矩陣研究-以台灣無線網路設備製造業為例	陳明哲; Ming Jer Chen; 張家齊; Chia Chi Chang
國立交通大學	2014-12-12T02:52:18Z	背閘偏壓對於次臨界區電路不匹配效應之控制與其物理模型	曾貴鴻; Kuei-Hung Tseng; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:51:46Z	背向散射理論應用於金氧半場效電晶體在飽和區不匹配效應之物理模型	蔡鐘賢; Chung-Hsien Tsai; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:51:37Z	超薄雙閘極金氧半場效電晶體與矽奈米線電晶體涵蓋通道背向散射效應之物理解析模型	顏士貴; Shih-Guei Yan; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:47:13Z	先進金氧半場效電晶體對於佈局之依賴效應	許義明; Yi-Ming Sheu; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:30:45Z	晶圓之場效電晶體機械應力之監測	陳健生; Jien Sheng Chen; 陳明哲; Ming jer chen
國立交通大學	2014-12-12T02:30:44Z	奈米場效電晶體的通道次能階和彈道傳輸之研究	曾盈達; Yin-Ta Tseng; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:30:44Z	順偏強化寫入機制於快閃式記憶體之探討	陳柏求; Bo-chu chen; 陳明哲; Ming-Jer chen
國立交通大學	2014-12-12T02:30:42Z	奈米場效電晶體之通道逆向散射實驗	陳柏年; Po -Nien,Chen; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:30:38Z	超大型級晶片可靠度分析及主動元件安裝於金氧半電晶體之輸出入墊片下之研究與製程技術智財自動化之設計	周國裕; Kuo-Yu Chou; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:28:15Z	矽技術電感及傳輸線之特性分析, 設計及模型	趙傳珍; Chuan-Jane Chao; 陳明哲; 王是琦; Ming-Jer Chen; Shyh-Chyi Wong
國立交通大學	2014-12-12T02:28:06Z	奈米尺寸金氧半場效電晶體通道逆向散射實驗與理論	黃國荃; Kuo-Chuan Huang; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:28:06Z	金氧半電晶體的邊緣直接穿透電流之隨機擾動	呂明霈; Ming-Pei Lu; 陳明哲; Ming- Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:28:05Z	新式快閃式記憶體電容耦合參數之萃取方法	林佳漢; Jia - Han Lin; 陳明哲; Ming- Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:25:34Z	快閃記憶體的特性、分析以及參數萃取	謝文獻; Wen-Shain Hsieh; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:25:34Z	超薄閘氧化層電晶體中量子效益及軟崩潰之嶄新實驗觀察	葉士新; Shih-Hsin Yeh; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:25:34Z	磊晶互補式金氧半鎖定物理模型及晶片靜電放電保護	李煥松; Hun-Shung Lee; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:25:33Z	P型通道超薄氧化層金氧半電晶體低電壓下陷阱對陷阱的穿透	朱哲民; Chu Che MIn; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:23:49Z	奈米金氧半場效電晶體之通道熱能區背向散射實驗	陳榮挺; Rong-Ting Chen; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:23:26Z	超細薄膜奈米雙閘場效電晶體含括返向通量比之物理解析式模型	林盈秀; Ying-Shiou Lin; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:23:15Z	磊晶層厚度對MOS靜電放電可靠性之衝擊	陳順棠; Shuenn-Tarng Chen; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:23:13Z	對深次微米金氧半電晶體在軟崩潰之後的1/f 雜訊之研究	李元華; Huan-Hwa Lee; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:23:12Z	金氧半場效電晶體臨界電壓之不匹配模型和對電路良率的衝擊	唐千峰; Chien-Fong Tang; 陳明哲; Ming-Jer Chen
國立交通大學	2014-12-12T02:20:51Z	深次微米MOSFET通道引致二次電子閘極電流之研究	王啟勳; Chi-Shiun Wang; 陳明哲; Ming-Jer Chen

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