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機構	日期	題名	作者
國立成功大學	2019-10	Deep-Learning-Based Defective Bean Inspection with GAN-Structured Automated Labeled Data Augmentation in Coffee Industry	Chou;Yung-Chien;Kuo;Cheng-Ju;Chen;Tzu-Ting;Horng;Gwo-Jiun;Pai;Mao-Yuan;Wu;Mu-En;Lin;Yu-Chuan;Hung;Min-Hsiung;Su;Wei-Tsung;Chen;Yi-Chung;Wang;Ding-Chau;Chen;Hao-Chun

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