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机构	日期	题名	作者
國立臺灣海洋大學	2006-03-31	Demonstrating Applications of Non-optically Regulated Tapping-Mode Near-Field Scanning Optical Microscopy to Nano-optical Metrology and Optical Characterization of Semiconductors	Nien Hua Lu;Shuen De Chang;Guan-Bin Huang;Hung Ji Huang;Ying Sheng Huang;Hai-Pang Chiang;Din Ping Tsai

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