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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2008-09-19	Pressure-induced valence anomaly in TmTe probed by resonant inelastic x-ray scattering	Jarrige, I.; Rueff, J. P.; Shieh, S. R.; Taguchi, M.; Ohishi, Y.; Matsumura, T.; Wang, C. P.; Ishii, H.; Hiraoka, N.; Cai, Y. Q.

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