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機構	日期	題名	作者
國立中山大學	2009	Evaluation of nanomechanical properties of multi-layer SiGe-Si films	M.H. Lin;H.C. Wen;Y.S. Lai;P.F. Yang
國立中山大學	2009	Nanomechanical characterization of GaN epitaxial layers	H.C. Wen;Y.S. Lai;P.F. Yang;M.H. Lin
國立中山大學	2009	Cross-sectional transmission electron microscopy studies for deformation behaviors of AlN thin films under Berkovich nanoindentation	S.R. Jian;J.S.C. Jang;G.J. Chen;H.G. Chen;Y.Y. Liao;M.R. Chen;H.L. Kao;P.F. Yang;Y.S. Lai

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