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机构 日期 题名 作者
國立中山大學 2003 A novel SiGe raised source/drain polycrystalline silicon thin-film transistor with improved on-current and larger breakdown voltage D.Z. Peng;T.C. Chang;Y.H. Yeh;P.T. Liu;C.Y. Chang
國立中山大學 2003 Structural and electrical characteristics of low-dielectric constant porous hydrogen silsequioxane for Cu metallization J.H. Wang;T.C. Chang;P.T. Liu;S.L. Lin;L.J. Chen
國立中山大學 2003 Characteristics and stress-induced degradation of laser-activated low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistors D.Z. Peng;T.C. Chang;C.Y. Chang;M.L. Tsai;C.H. Tu;P.T. Liu
國立中山大學 2003 Direct Patterning of low-k hydrogen silsesquioxane using X-ray exposure technology T.C. Chang;H.M. Tsai;P.T. Liu;Y.S. Mor;C.W. Chen;T.Y. Tsing
國立中山大學 2003 Dielectric characteristics of low-permittivity silicate using electron beam direct patterning for intermetal dielectric applications P.T. Liu;T.C. Chang;T.M. Tasi;Z.W. Chen;B.C. Chen;S.M. Sze
國立中山大學 2003 Electrical transport phenomena in aromatic hydrocarbon polymer P.T. Liu;T.C. Chang;S.T. Yan;C.H. Li;S.M. Sze

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