|
|
Taiwan Academic Institutional Repository >
Browse by Author
|
"ruey shan guo"
Showing items 11-60 of 430 (9 Page(s) Totally)
1 2 3 4 5 6 7 8 9 > >>
View [10|25|50] records per page
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:44Z |
The D-Day, V-Day, and bleak days of a disruptive technology: A new model for ex-ante evaluation of the timing of technology disruption
|
Chen C.;Zhang J.;Guo R.-S.; Chen C.; Zhang J.; Guo R.-S.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:44Z |
Virtual fab: An enabling framework and dynamic manufacturing service provision mechanism
|
Su Y.-H.; Guo R.-S.; Chang S.-C.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:43Z |
Run-to-run control schemes for CMP process subject to deterministic drifts
|
Guo R.-S.; Chen A.; Chen J.-J.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:43Z |
SHEWMA: an end-of-line SPC scheme using wafer acceptance test data
|
Fan C.-M.; Guo R.-S.; Chang S.-C.; Wei C.-S.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:43Z |
SHEWMAC: An end-of-line SPC scheme for joint monitoring of process mean and variance
|
Fan C.-M.; Chang S.-C.; Guo R.-S.; Kung H.-H.; You J.-C.; Chen H.-P.; Lin S.; Wei J.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:43Z |
SHEWMAC: An end-of-line SPC scheme via exponentially weighted moving statistics
|
Fan C.-M.; Chang S.-C.; Guo R.-S.; Kung H.-H.; You J.-C.; Chen H.-P.; Lin S.; Wei C.-S.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:43Z |
Supply chain inventory control in semiconductor manufacturing
|
Guo R.-S.;Chiang D.;Yang P.-C.; Guo R.-S.; Chiang D.; Yang P.-C.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:42Z |
Partner selection model for design chain collaboration
|
Chen J.-Y.;Chiang D.M.-H.;Guo R.-S.; Chen J.-Y.; Chiang D.M.-H.; Guo R.-S.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:42Z |
Process Control System for VLSI Fabrication
|
Sachs E.; Guo R.-S.; Ha S.; Hu A.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:42Z |
Results of An Implant Masking Integrated Workcall in A Development Facility
|
Griffin R.;Guo R.-S.;Slama M.; Griffin R.; Guo R.-S.; Slama M.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:42Z |
Retailer's optimal sourcing strategy by using one major supplier and one emergent supplier
|
Chiang D.M.;Guo R.-S.;Pai F.-Y.; Chiang D.M.; Guo R.-S.; Pai F.-Y.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:42Z |
Run-To-run control of CMP process considering aging effects of pad and disc
|
Chen A.; Guo R.-S.; Chou Y.L.; Lin C.L.; Dun J.; Wu S.A.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:41Z |
Modeling and optimization of wafer-level spatial uniformity with the use of rational subgrouping
|
Guo R.-S.;Chen A.;Liu C.;Lin A.;Lan M.; Guo R.-S.; Chen A.; Liu C.; Lin A.; Lan M.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:41Z |
Multi-objectives exception management model for semiconductor back-end environment under turnkey service
|
Pai F.-Y.; RUEY-SHAN GUO; Guo R.-S.; Chiang D.M. |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:41Z |
On-line process optimization and control using the sequential design of experiments
|
Sachs E.;Guo R.-S.;Ha S.;Hu A.; Sachs E.; Guo R.-S.; Ha S.; Hu A.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:41Z |
Optimal pricing strategies under co-existence of price-takers and bargainers in a supply chain
|
Kuo C.-W.; Guo R.-S.; Wu Y.-F.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:41Z |
Optimal supply chain configurations in semiconductor manufacturing
|
RUEY-SHAN GUO; Chen C.-B.; Cheng M.-T.; Chen A.; Guo R.-S.; Chiang D. |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:41Z |
Modeling, Optimization and Control of Spatial Uniformity in Manufacturing Processes
|
Guo R.-S.; Guo R.-S.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:40Z |
Forward echelon-based inventory monitoring in semiconductor supply chain
|
Guo R.-S.;Chiang D.;Lin H.-W.;Guo M.-S.; Guo R.-S.; Chiang D.; Lin H.-W.; Guo M.-S.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:40Z |
Function-based cost modeling for wafer manufacturing and its application to strategic management
|
Guo R.-S.;Chen A.;Lin P.-L.;Shih Y.-C.; Guo R.-S.; Chen A.; Lin P.-L.; Shih Y.-C.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:40Z |
How business strategy in non-financial firms moderates the curvilinear effects of corporate social responsibility and irresponsibility on corporate financial performance
|
Chen C.-J.;Guo R.-S.;Hsiao Y.-C.;Chen K.-L.; Chen C.-J.; Guo R.-S.; Hsiao Y.-C.; Chen K.-L.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:40Z |
Improved customer satisfaction with a hybrid dispatching rule in semiconductor back-end factories
|
Chiang D.M.;Guo R.-S.;Pai F.-Y.; Chiang D.M.; Guo R.-S.; Pai F.-Y.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:40Z |
Historically explore on the patterns of business model for silicon Intellectual Property (IP) providers in the semiconductor industry
|
Su Y.-H.;Guo R.-S.;Hsieh W.-Y.; Su Y.-H.; Guo R.-S.; Hsieh W.-Y.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:39Z |
Evolutionary business models and inter-firm engineering processes between the foundry and fabless in the semiconductor industry
|
Guo R.-S.;Su Y.-H.;Chiu S.-F.;Pai F.-Y.;Yeh C.-P.; Guo R.-S.; Su Y.-H.; Chiu S.-F.; Pai F.-Y.; Yeh C.-P.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:39Z |
Evolutionary engineering collaboration for DFM/DFY solutions between foundry and EDA tool vendor
|
Su Y.-H.;Guo R.-S.;Chang H.-H.; Su Y.-H.; Guo R.-S.; Chang H.-H.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:39Z |
First-mover strategy, resource capacity alignment, and new product performance: a framework for mediation and moderation effects
|
Hsiao Y.-C.;Chen C.-J.;Guo R.-S.;Hu K.-K.; Hsiao Y.-C.; Chen C.-J.; Guo R.-S.; Hu K.-K.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:39Z |
Forward echelon-based inventory monitoring in a semiconductor supply Chain
|
Guo R.-S.;Chiang M.-H.;Lin H.-W.;Chen J.-Y.; Guo R.-S.; Chiang M.-H.; Lin H.-W.; Chen J.-Y.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:38Z |
An EWMA-based process mean estimator with dynamic tuning capability
|
Guo R.-S.;Chen J.-J.; Guo R.-S.; Chen J.-J.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:38Z |
Application of dynamic manufacturing service provisioning mechanism to delivery commitment
|
Su Y.-H.;Chang S.-C.;Guo R.-S.;Lai Y.C.; Su Y.-H.; Chang S.-C.; Guo R.-S.; Lai Y.C.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:38Z |
Connected vehicle safety science, system, and framework
|
Yang S.-W.; Chien S.-Y.; Lee C.-H.; Su Y.-C.; Chou C.-T.; Lee Y.-J.; Pao H.-K.; Guo R.-S.; Chen C.-J.; Yang M.-H.; Chen B.-Y.; Hung Y.-P.; RUEY-SHAN GUO; Chen K.-W.;Tsai H.-M.;Hsieh C.-H.;Lin S.-D.;Wang C.-C.;Yang S.-W.;Chien S.-Y.;Lee C.-H.;Su Y.-C.;Chou C.-T.;Lee Y.-J.;Pao H.-K.;Guo R.-S.;Chen C.-J.;Yang M.-H.;Chen B.-Y.;Hung Y.-P.; Chen K.-W.; Tsai H.-M.; Hsieh C.-H.; Lin S.-D.; Wang C.-C. |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:38Z |
Data mining and fault diagnosis based on wafer acceptance test data and in-line manufacturing data
|
Fan C.-M.;Guo R.-S.;Chen A.;Hsu K.-C.;Wei C.-S.; Fan C.-M.; Guo R.-S.; Chen A.; Hsu K.-C.; Wei C.-S.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:37Z |
A real-time equipment monitoring and fault detection system
|
Guo R.S.;Chen A.;Tseng C.L.;Fong I.K.;Yang A.;Lee C.L.;Wu C.H.;Lin S.;Huang S.J.;Lee Y.C.;Chang S.G.;Lee M.Y.; Guo R.S.; Chen A.; Tseng C.L.; Fong I.K.; Yang A.; Lee C.L.; Wu C.H.; Lin S.; Huang S.J.; Lee Y.C.; Chang S.G.; Lee M.Y.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:37Z |
Age-based double EWMA controller and its application to CMP processes
|
Chen A.;Guo R.-S.; Chen A.; Guo R.-S.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:37Z |
Agile Flow Control in Semiconductor Manufacturing: Simulation and Animation Demonstration
|
Guo R.-S.;Griffin R.;Slama M.; Guo R.-S.; Griffin R.; Slama M.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:37Z |
An effective SPC approach to monitoring semiconductor quality data with multiple variation sources
|
Chen A.;Guo R.-S.;Yeh P.-C.; Chen A.; Guo R.-S.; Yeh P.-C.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:37Z |
A self-tuning run-by-run process controller for processes subject to random disturbances
|
Guo R.-S.;Chen J.-J.;Chen A.;Lu S.-S.; Guo R.-S.; Chen J.-J.; Chen A.; Lu S.-S.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:36Z |
A conceptual framework for manufacturing service provisioning by virtual fabs
|
Su Y.-H.;Guo R.-S.;Chang S.-C.; Su Y.-H.; Guo R.-S.; Chang S.-C.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:36Z |
A dynamic binding model for service creation in virtual fab
|
Chang S.C.;Chou T.-L.;Guo R.-S.;Su Y.-H.;Lu L.-L.;Lai I.-C.; Chang S.C.; Chou T.-L.; Guo R.-S.; Su Y.-H.; Lu L.-L.; Lai I.-C.; RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:36Z |
A multi-category inter-purchase time model based on hierarchical Bayesian theory
|
RUEY-SHAN GUO |
| 臺大學術典藏 |
2020-03-06T03:42:25Z |
A WIP-based exception-management model for integrated circuit back-end production processes
|
RUEY-SHAN GUO; MING-HUANG CHIANG; Pai F.-Y.; MING-HUANG CHIANG |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:45:30Z |
Measurement of branching fraction ratios and [Formula Presented] asymmetries in [Formula Presented]
|
Inami, K.; Mitaroff, W.; Kinoshita, K.; Hayashii, H.; Nakao, M.; Asano, Y.; Abe, T.; Matsumoto, H.; Kapusta, P.; Fang, F.; Chang, M.; Kichimi, H.; Golob, B.; Choi, S.; Bozek, A.; Kim, J. H.; Kuzmin, A.; Miyata, H.; Lange, J. S.; Garmash, A.; Kang, J. S.; Kim, S. K.; Hara, T.; Aihara, H.; Hokuue, T.; Itoh, R.; Drutskoy, A.; Kim, Hyunwoo; Abe, K.; Bay, A.; Danilov, M.; Chistov, R.; Kawamura, N.; KAI-FENG CHEN; Kawamura, N.;Chistov, R.;Danilov, M.;Bay, A.;Abe, K.;Kim, Hyunwoo;Drutskoy, A.;Itoh, R.;Hokuue, T.;Aihara, H.;Hara, T.;Kim, S. K.;RUEY-SHAN GUO;Behera, P. K.;Akatsu, M.;Choi, Y.;Swain, S. K.;Banas, E.;Bizjak, I.;Lin, S.;Aso, T.;Leder, G.;Matsumoto, T.;Huang, H.;Hazumi, M.;Mueller, J.;Dragic, J.;Nagasaka, Y.;Nagamine, T.;Iwasaki, H.;Higuchi, T.;Li, J.;Choi, Y. K.;Hou, W.;Adachi, I.;Kawai, H.;Ishikawa, A.;Enari, Y.;Matyja, A.;MacNaughton, J.;Bračko, M.;Haba, J.;Chen, K.;Nakano, E.;Kumar, S.;Bondar, A.;Mandl, F.;Katayama, N.;Bahinipati, S.;Kang, J. S.;Garmash, A.;Lange, J. S.;Miyata, H.;Kuzmin, A.;Kim, J. H.;Bozek, A.;YUAN-HUNG CHAO;Eidelman, S.;Iijima, T.;Jang, H. K.;Nakazawa, H.;Limosani, A.;Kulasiri, R.;Korpar, S.;Dong, L. Y.;Browder, T. E.;Gershon, T.;Casey, B. C.K.;Krokovny, P.;Liventsev, D.;Cheon, B. G.;Aushev, T.;Ban, Y.;Hoshi, Y.;Kang, J. H.;Eiges, V.;Bakich, A. M.;Iwasaki, Y.;Higuchi, I.;Križan, P.;Kawasaki, T.;Kim, D. W.;Choi, S.;Golob, B.;Kichimi, H.;SU-HUA LEE;Kobayashi, S.;Kim, H. J.;Hinz, L.;Chang, M.;Fang, F.;Kapusta, P.;Matsumoto, H.;Abe, T.;Asano, Y.;Nakao, M.;Hayashii, H.;Kinoshita, K.;Mitaroff, W.;Inami, K. |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:45:28Z |
Search for [Formula Presented] decay
|
Iijima, T.;Golob, B.;Matyja, A.;Liventsev, D.;Iwasaki, H.;Enari, Y.;Kapusta, P.;SU-HUA LEE;Danilov, M.;Majumder, G.;Ban, Y.;Aihara, H.;Abe, K.;Nagamine, T.;Bondar, A.;Mori, T.;Leder, G.;Hastings, N. C.;Chuvikov, A.;Aulchenko, V.;Gabyshev, N.;YUAN-HUNG CHAO;Adachi, I.;Abe, K.;Ahn, Byoung Sup;Hinz, L.;Kichimi, H.;Chen, K.;Zang, S. L.;Hoshi, Y.;Bizjak, I.;Higuchi, T.;Bozek, A.;Abe, T.;Miyata, H.;Hayashii, H.;Kuzmin, A.;Hagner, C.;Kim, S. K.;Katayama, N.;Miyabayashi, K.;Hazumi, M.;Kumar, S.;Gershon, T.;Križan, P.;Krokovny, P.;Bračko, M.;Kim, J. H.;Choi, Y. K.;Li, J.;Korpar, S.;Itoh, R.;Bakich, A. M.;Chistov, R.;Nakazawa, H.;Chang, P.;Ishikawa, A.;Cheon, B. G.;Nakao, M.;Hokuue, T.;Fukunaga, C.;Eidelman, S.;RUEY-SHAN GUO;Kawai, H.;Aso, T.;Iwasaki, Y.;Mandl, F.;Inami, K.;Kawasaki, T.;Eiges, V.;Iwasaki, M.;Kwon, Y.;Nagasaka, Y.;Dong, L. Y.;Gokhroo, G.;MacNaughton, J.;Lin, S.;Koppenburg, P.;Mitaroff, W.;Kang, J. H.;Matsumoto, T.;Kang, J. S.;Browder, T. E.;Aushev, T.;Lesiak, T.;Choi, S.;Hou, W.;Limosani, A.;Lange, J. S.;Natkaniec, Z.;Mohapatra, D.;Kim, H. J.;Handa, F.;Nishida, S.;Kinoshita, K.;Choi, Y.;Asano, Y.;Akatsu, M.;Huang, H.;Miyake, H.; Miyake, H.; Huang, H.; Eidelman, S.; Fukunaga, C.; Hokuue, T.; Nakao, M.; Cheon, B. G.; Ishikawa, A.; Chang, P.; Gabyshev, N.; Aulchenko, V.; Chuvikov, A.; Hastings, N. C.; Leder, G.; Mori, T.; Bondar, A.; Nagamine, T.; Abe, K.; Aihara, H.; Ban, Y.; Majumder, G.; Danilov, M.; SU-HUA LEE; Kapusta, P.; Enari, Y.; Iwasaki, H.; Liventsev, D.; Matyja, A.; Golob, B.; Iijima, T.; KAI-FENG CHEN |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:44:00Z |
Observation of a narrow charmoniumlike state in exclusive [formula presented] decays
|
Nagamine, T.;Abe, T.;Kim, Hyunwoo;Danilov, M.;Aihara, H.;Liventsev, D.;Mitaroff, W.;Marlow, D.;Bračko, M.;Krokovny, P.;Aulchenko, V.;Michizono, S.;Nagasaka, Y.;Moloney, G. R.;Adachi, I.;Matsumoto, T.;Hsiung, Y. B.;Hara, T.;Itoh, R.;Kumar, S.;Bondar, A.;Banerjee, S.;Fukunaga, C.;Miyake, H.;Browder, T. E.;Akai, K.;Lesiak, T.;Asano, Y.;Ahn, Byoung Sup;Kichimi, H.;Kataoka, S. U.;Miyabayashi, K.;Hou, W. S.;Nakadaira, T.;Hinz, L.;Dong, L. Y.;Ishikawa, A.;Hagner, C.;Chang, P.;Koiso, H.;Kim, J. H.;YUAN-HUNG CHAO;Katayama, N.;Hazumi, M.;Korpar, S.;Kang, J. H.;Kuzmin, A.;Leder, G.;Mohapatra, D.;Choi, Y.;Iijima, T.;Aushev, T.;Kinoshita, K.;Furukawa, K.;Kawai, H.;Golob, B.;Chistov, R.;Choi, Y. K.;Majumder, G.;Handa, F.;Koppenburg, P.;Hayashii, H.;Brodzicka, J.;Kawasaki, T.;Nakamura, T. T.;Mandl, F.;Akatsu, M.;Drutskoy, A.;Chen, K. F.;Kim, S. K.;Križan, P.;Hastings, N. C.;Eidelman, S.;Choi, S. K.;Abe, K.;MacNaughton, J.;Kikutani, E.;RUEY-SHAN GUO;Ban, Y.;Akemoto, M.;Iwasaki, M.;Hoshi, Y.;Guler, H.;Eiges, V.;Kim, H. J.;Lange, J. S.;Cheon, B. G.;Bozek, A.;SU-HUA LEE;Olsen, S. L.;Huang, H. C.;Flanagan, J.;Bakich, A. M.;Aso, T.;Mimashi, T.;Lin, S. W.;Iwasaki, Y.;Inami, K.;Gershon, T.;Gabyshev, N.; Gabyshev, N.; Gershon, T.; Inami, K.; Iwasaki, Y.; Lin, S. W.; Bozek, A.; Cheon, B. G.; Lange, J. S.; Kim, H. J.; Eiges, V.; Guler, H.; Hoshi, Y.; Iwasaki, M.; Akemoto, M.; Ban, Y.; RUEY-SHAN GUO; Kikutani, E.; MacNaughton, J.; Abe, K.; Choi, S. K.; Eidelman, S.; Hastings, N. C.; Kri?an, P.; Kim, S. K.; Chen, K. F.; Kim, J. H.; Koiso, H.; Chang, P.; Hagner, C.; Ishikawa, A.; Dong, L. Y.; Hinz, L.; Nakadaira, T.; Hou, W. S.; Miyabayashi, K.; Kataoka, S. U.; Kichimi, H.; Ahn, Byoung Sup; Asano, Y.; Lesiak, T.; Akai, K.; Browder, T. E.; Miyake, H.; Fukunaga, C.; Banerjee, S.; Bondar, A.; Kumar, S.; Itoh, R.; Hara, T.; Hsiung, Y. B.; Matsumoto, T.; Adachi, I.; Moloney, G. R.; Nagasaka, Y.; Michizono, S.; Aulchenko, V.; Krokovny, P.; Bra?ko, M.; Marlow, D.; Mitaroff, W.; Liventsev, D.; Aihara, H.; Danilov, M.; Kim, Hyunwoo; Abe, T.; Nagamine, T.; KAI-FENG CHEN |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:44:00Z |
Observation of a narrow charmoniumlike state in exclusive [formula presented] decays
|
Nagamine, T.;Abe, T.;Kim, Hyunwoo;Danilov, M.;Aihara, H.;Liventsev, D.;Mitaroff, W.;Marlow, D.;Bračko, M.;Krokovny, P.;Aulchenko, V.;Michizono, S.;Nagasaka, Y.;Moloney, G. R.;Adachi, I.;Matsumoto, T.;Hsiung, Y. B.;Hara, T.;Itoh, R.;Kumar, S.;Bondar, A.;Banerjee, S.;Fukunaga, C.;Miyake, H.;Browder, T. E.;Akai, K.;Lesiak, T.;Asano, Y.;Ahn, Byoung Sup;Kichimi, H.;Kataoka, S. U.;Miyabayashi, K.;Hou, W. S.;Nakadaira, T.;Hinz, L.;Dong, L. Y.;Ishikawa, A.;Hagner, C.;Chang, P.;Koiso, H.;Kim, J. H.;YUAN-HUNG CHAO;Katayama, N.;Hazumi, M.;Korpar, S.;Kang, J. H.;Kuzmin, A.;Leder, G.;Mohapatra, D.;Choi, Y.;Iijima, T.;Aushev, T.;Kinoshita, K.;Furukawa, K.;Kawai, H.;Golob, B.;Chistov, R.;Choi, Y. K.;Majumder, G.;Handa, F.;Koppenburg, P.;Hayashii, H.;Brodzicka, J.;Kawasaki, T.;Nakamura, T. T.;Mandl, F.;Akatsu, M.;Drutskoy, A.;Chen, K. F.;Kim, S. K.;Križan, P.;Hastings, N. C.;Eidelman, S.;Choi, S. K.;Abe, K.;MacNaughton, J.;Kikutani, E.;RUEY-SHAN GUO;Ban, Y.;Akemoto, M.;Iwasaki, M.;Hoshi, Y.;Guler, H.;Eiges, V.;Kim, H. J.;Lange, J. S.;Cheon, B. G.;Bozek, A.;SU-HUA LEE;Olsen, S. L.;Huang, H. C.;Flanagan, J.;Bakich, A. M.;Aso, T.;Mimashi, T.;Lin, S. W.;Iwasaki, Y.;Inami, K.;Gershon, T.;Gabyshev, N.; Gabyshev, N.; Gershon, T.; Inami, K.; Iwasaki, Y.; Lin, S. W.; Bozek, A.; Cheon, B. G.; Lange, J. S.; Kim, H. J.; Eiges, V.; Guler, H.; Hoshi, Y.; Iwasaki, M.; Akemoto, M.; Ban, Y.; RUEY-SHAN GUO; Kikutani, E.; MacNaughton, J.; Abe, K.; Choi, S. K.; Eidelman, S.; Hastings, N. C.; Kri?an, P.; Kim, S. K.; Chen, K. F.; Kim, J. H.; Koiso, H.; Chang, P.; Hagner, C.; Ishikawa, A.; Dong, L. Y.; Hinz, L.; Nakadaira, T.; Hou, W. S.; Miyabayashi, K.; Kataoka, S. U.; Kichimi, H.; Ahn, Byoung Sup; Asano, Y.; Lesiak, T.; Akai, K.; Browder, T. E.; Miyake, H.; Fukunaga, C.; Banerjee, S.; Bondar, A.; Kumar, S.; Itoh, R.; Hara, T.; Hsiung, Y. B.; Matsumoto, T.; Adachi, I.; Moloney, G. R.; Nagasaka, Y.; Michizono, S.; Aulchenko, V.; Krokovny, P.; Bra?ko, M.; Marlow, D.; Mitaroff, W.; Liventsev, D.; Aihara, H.; Danilov, M.; Kim, Hyunwoo; Abe, T.; Nagamine, T.; KAI-FENG CHEN |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:43:59Z |
Study of [Formula Presented] decays
|
Dong, L. Y.;Limosani, A.;Hazumi, M.;Chistov, R.;Casey, B. C.K.;Eiges, V.;Krokovny, P.;Browder, T. E.;Fukunaga, C.;Križan, P.;Eidelman, S.;Kang, J. S.;Matsumoto, T.;Nagamine, T.;Hara, T.;Mitaroff, W.;Matyja, A.;Hoshi, Y.;Katayama, N.;Bay, A.;MacNaughton, J.;Bedny, I.;Huang, H.;Adachi, I.;Mohapatra, D.;Banerjee, S.;Igarashi, Y.;Bondar, A.;Miyata, H.;Hokuue, T.;Kawasaki, T.;Lin, S.;Hagner, C.;Hsiung, Y. B.;Miyake, H.;Kichimi, H.;Liventsev, D.;YUAN-HUNG CHAO;Banas, E.;Choi, Y. K.;Aihara, H.;Kang, J. H.;Iwasaki, Y.;Hou, W.;Handa, F.;Lesiak, T.;Gershon, T.;Li, J.;Nakao, M.;Drutskoy, A.;Ishikawa, A.;Kim, H. J.;Chen, K.;Iwasaki, H.;Nakano, E.;Iwasaki, M.;Lange, J. S.;Mandl, F.;Garmash, A.;Brodzicka, J.;Mori, T.;Enari, Y.;Hayashii, H.;Kim, S. K.;Jang, H. K.;Iijima, T.;Abe, T.;Itoh, R.;Bračko, M.;Cheon, B. G.;Behera, P. K.;Bizjak, I.;Leder, G.;Nakadaira, T.;Kinoshita, K.;Kuzmin, A.;Aushev, T.;Choi, Y.;Asano, Y.;Kim, Hyunwoo;RUEY-SHAN GUO;Kwon, Y.;Chang, P.;Kim, J. H.;Nagasaka, Y.;Gabyshev, N.;Aso, T.;Abe, K.;SU-HUA LEE;Akatsu, M.;Danilov, M.;Bakich, A. M.;Higuchi, T.;Choi, S.;Hinz, L.;Inami, K.;Golob, B.;Ban, Y.;Abe, K.;Blyth, S.; Blyth, S.; Abe, K.; Ban, Y.; Golob, B.; Inami, K.; Hinz, L.; Choi, S.; Abe, K.; Aso, T.; Gabyshev, N.; Nagasaka, Y.; Kim, J. H.; Chang, P.; Kim, Hyunwoo; Asano, Y.; Choi, Y.; Aushev, T.; Kuzmin, A.; Kinoshita, K.; Nakadaira, T.; Leder, G.; Bizjak, I.; Behera, P. K.; Cheon, B. G.; Bra?ko, M.; Itoh, R.; Abe, T.; Iijima, T.; Jang, H. K.; Kim, S. K.; Hayashii, H.; Enari, Y.; Mori, T.; Brodzicka, J.; Garmash, A.; Mandl, F.; Lange, J. S.; Iwasaki, M.; Nakano, E.; Iwasaki, H.; Chen, K.; Liventsev, D.; Kichimi, H.; Miyake, H.; Hsiung, Y. B.; Hagner, C.; Lin, S.; Kawasaki, T.; Hokuue, T.; Miyata, H.; Bondar, A.; Igarashi, Y.; Banerjee, S.; Mohapatra, D.; Adachi, I.; Huang, H.; Bedny, I.; MacNaughton, J.; Bay, A.; Katayama, N.; Hoshi, Y.; Matyja, A.; Mitaroff, W.; Hara, T.; Nagamine, T.; Matsumoto, T.; Kang, J. S.; Eidelman, S.; Kri?an, P.; Fukunaga, C.; Browder, T. E.; Krokovny, P.; Eiges, V.; Casey, B. C.K.; Chistov, R.; Hazumi, M.; Limosani, A.; Dong, L. Y.; KAI-FENG CHEN |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:41:48Z |
Observation of cabibbo suppressed B → D(*)K- decays at belle
|
RUEY-SHAN GUO;Lange, J. S.;Choi, S. K.;Eidelman, S.;Hanagaki, K.;Heenan, E. M.;Bozek, A.;Casey, B. C.K.;Choi, Y.;Higuchi, T.;Bartel, W.;Asano, Y.;Kawai, H.;Cheon, B. G.;Hara, T.;Kagan, R.;Marlow, D.;Gordon, A.;Bondar, A.;Enomoto, R.;Browder, T. E.;Haba, J.;Behari, S.;SU-HUA LEE;Aushev, T.;Iwai, G.;Kinoshita, K.;Lee, M. H.;Huang, H. C.;Matsubara, T.;Hazumi, M.;Kulasiri, R.;Hayashii, H.;Hou, W. S.;Enari, Y.;Matsumoto, T.;Matsumoto, S.;Kuzmin, A.;Ikeda, H.;Behera, P. K.; RUEY-SHAN GUO; Lange, J. S.; Choi, S. K.; Eidelman, S.; Hanagaki, K.; Heenan, E. M.; Bozek, A.; Casey, B. C.K.; Choi, Y.; Higuchi, T.; Bartel, W.; Asano, Y.; Kawai, H.; Cheon, B. G.; Hara, T.; Kagan, R.; Marlow, D.; Gordon, A.; Bondar, A.; Enomoto, R.; Browder, T. E.; Haba, J.; Behari, S.; SU-HUA LEE; Aushev, T.; Iwai, G.; Kinoshita, K.; Lee, M. H.; Huang, H. C.; Matsubara, T.; Hazumi, M.; Kulasiri, R.; Hayashii, H.; Hou, W. S.; Enari, Y.; Matsumoto, T.; Matsumoto, S.; Kuzmin, A.; Ikeda, H.; Behera, P. K.; PAO-TI CHANG et al. |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:41:48Z |
Observation of cabibbo suppressed B → D(*)K- decays at belle
|
RUEY-SHAN GUO;Lange, J. S.;Choi, S. K.;Eidelman, S.;Hanagaki, K.;Heenan, E. M.;Bozek, A.;Casey, B. C.K.;Choi, Y.;Higuchi, T.;Bartel, W.;Asano, Y.;Kawai, H.;Cheon, B. G.;Hara, T.;Kagan, R.;Marlow, D.;Gordon, A.;Bondar, A.;Enomoto, R.;Browder, T. E.;Haba, J.;Behari, S.;SU-HUA LEE;Aushev, T.;Iwai, G.;Kinoshita, K.;Lee, M. H.;Huang, H. C.;Matsubara, T.;Hazumi, M.;Kulasiri, R.;Hayashii, H.;Hou, W. S.;Enari, Y.;Matsumoto, T.;Matsumoto, S.;Kuzmin, A.;Ikeda, H.;Behera, P. K.; RUEY-SHAN GUO; Lange, J. S.; Choi, S. K.; Eidelman, S.; Hanagaki, K.; Heenan, E. M.; Bozek, A.; Casey, B. C.K.; Choi, Y.; Higuchi, T.; Bartel, W.; Asano, Y.; Kawai, H.; Cheon, B. G.; Hara, T.; Kagan, R.; Marlow, D.; Gordon, A.; Bondar, A.; Enomoto, R.; Browder, T. E.; Haba, J.; Behari, S.; SU-HUA LEE; Aushev, T.; Iwai, G.; Kinoshita, K.; Lee, M. H.; Huang, H. C.; Matsubara, T.; Hazumi, M.; Kulasiri, R.; Hayashii, H.; Hou, W. S.; Enari, Y.; Matsumoto, T.; Matsumoto, S.; Kuzmin, A.; Ikeda, H.; Behera, P. K.; PAO-TI CHANG et al. |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:41:47Z |
Measurement of branching fractions for B → ππ, Kπ, and KK Decays
|
Fang, F.; Gordon, A.; Jackson, D. J.; Abe, K.; Bondar, A.; Kinoshita, K.; YUAN-HUNG CHAO; Hoshi, Y.; Beiline, D.; Fujii, H.; Matsumoto, S.; Eidelman, S.; Ishino, H.; Iwasaki, H.; Enomoto, R.; Kichimi, H.; Kumar, S.; Asano, Y.; RUEY-SHAN GUO; Chen, K. F.; Hirano, H.; Kawasaki, T.; Liventsev, D.; Kakuno, H.; Chang, P.; Hanagaki, K.; Katayama, N.; Kim, S. K.; KAI-FENG CHEN; Alimonti, G.; Krokovny, P.; Kang, J. H.; Jalocha, P.; Hsu, S. C.; Bozek, A.; Kim, Hyunwoo; Kawai, H.; Gotow, K.; Matsumoto, T.; Aihara, H.; Kang, J. S.; Miyabayashi, K.; Kim, S. K.;Katayama, N.;Hanagaki, K.;Chang, P.;Kakuno, H.;Liventsev, D.;Kawasaki, T.;Hirano, H.;Chen, K. F.;RUEY-SHAN GUO;Asano, Y.;Kumar, S.;Kichimi, H.;Enomoto, R.;Iwasaki, H.;Ishino, H.;Eidelman, S.;Matsumoto, S.;Fujii, H.;Beiline, D.;Hoshi, Y.;YUAN-HUNG CHAO;Kinoshita, K.;Bondar, A.;Abe, K.;Jackson, D. J.;Gordon, A.;Fang, F.;Krokovny, P.;Alimonti, G.;Kang, J. H.;Jalocha, P.;Choi, S. K.;Iwai, G.;Aso, T.;Ikeda, H.;Bartel, W.;Jang, H. K.;Ishikawa, A.;Adachi, I.;Kawai, H.;Hojo, T.;Hastings, N. C.;Garmash, A.;Kaneko, J.;Bakich, A. M.;Aushev, T.;Lee, M. H.;Browder, T. E.;Kim, H. J.;Hamasaki, H.;Kulasiri, R.;Handa, F.;Huang, H. C.;Mikami, Y.;Higuchi, T.;Akatsu, M.;Itoh, R.;Hou, W. S.;Casey, B. C.K.;Hsu, S. C.;Kobayashi, S.;Aulchenko, V.;Hayashii, H.;Matsubara, T.;Choi, Y.;RONG-SHYANG LU;Heenan, E. M.;Marlow, D.;Fukushima, M.;Bozek, A.;Kim, Hyunwoo;Kawai, H.;Gotow, K.;Matsumoto, T.;Aihara, H.;SU-HUA LEE;Jones, M.;Enari, Y.;Abe, K.;Higuchi, I.;Hara, T.;Iwasaki, Y.;Kim, D. W.;Igarashi, Y.;Hazumi, M.;Cheon, B. G.;Behera, P. K.;Lange, J. S.;Kuzmin, A.;Haba, J.;Kim, Heejong;Inami, K.;Iijima, T.;Behari, S.;Ahn, Byoung Sup;Hara, K.;Kwon, Y. J.;Kang, J. S.;Miyabayashi, K.; Kobayashi, S.; Aulchenko, V.; Hayashii, H.; Matsubara, T.; Choi, Y.; RONG-SHYANG LU; Heenan, E. M.; Marlow, D.; Fukushima, M. |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:41:47Z |
Measurement of branching fractions for B → ππ, Kπ, and KK Decays
|
Fang, F.; Gordon, A.; Jackson, D. J.; Abe, K.; Bondar, A.; Kinoshita, K.; YUAN-HUNG CHAO; Hoshi, Y.; Beiline, D.; Fujii, H.; Matsumoto, S.; Eidelman, S.; Ishino, H.; Iwasaki, H.; Enomoto, R.; Kichimi, H.; Kumar, S.; Asano, Y.; RUEY-SHAN GUO; Chen, K. F.; Hirano, H.; Kawasaki, T.; Liventsev, D.; Kakuno, H.; Chang, P.; Hanagaki, K.; Katayama, N.; Kim, S. K.; KAI-FENG CHEN; Alimonti, G.; Krokovny, P.; Kang, J. H.; Jalocha, P.; Hsu, S. C.; Bozek, A.; Kim, Hyunwoo; Kawai, H.; Gotow, K.; Matsumoto, T.; Aihara, H.; Kang, J. S.; Miyabayashi, K.; Kim, S. K.;Katayama, N.;Hanagaki, K.;Chang, P.;Kakuno, H.;Liventsev, D.;Kawasaki, T.;Hirano, H.;Chen, K. F.;RUEY-SHAN GUO;Asano, Y.;Kumar, S.;Kichimi, H.;Enomoto, R.;Iwasaki, H.;Ishino, H.;Eidelman, S.;Matsumoto, S.;Fujii, H.;Beiline, D.;Hoshi, Y.;YUAN-HUNG CHAO;Kinoshita, K.;Bondar, A.;Abe, K.;Jackson, D. J.;Gordon, A.;Fang, F.;Krokovny, P.;Alimonti, G.;Kang, J. H.;Jalocha, P.;Choi, S. K.;Iwai, G.;Aso, T.;Ikeda, H.;Bartel, W.;Jang, H. K.;Ishikawa, A.;Adachi, I.;Kawai, H.;Hojo, T.;Hastings, N. C.;Garmash, A.;Kaneko, J.;Bakich, A. M.;Aushev, T.;Lee, M. H.;Browder, T. E.;Kim, H. J.;Hamasaki, H.;Kulasiri, R.;Handa, F.;Huang, H. C.;Mikami, Y.;Higuchi, T.;Akatsu, M.;Itoh, R.;Hou, W. S.;Casey, B. C.K.;Hsu, S. C.;Kobayashi, S.;Aulchenko, V.;Hayashii, H.;Matsubara, T.;Choi, Y.;RONG-SHYANG LU;Heenan, E. M.;Marlow, D.;Fukushima, M.;Bozek, A.;Kim, Hyunwoo;Kawai, H.;Gotow, K.;Matsumoto, T.;Aihara, H.;SU-HUA LEE;Jones, M.;Enari, Y.;Abe, K.;Higuchi, I.;Hara, T.;Iwasaki, Y.;Kim, D. W.;Igarashi, Y.;Hazumi, M.;Cheon, B. G.;Behera, P. K.;Lange, J. S.;Kuzmin, A.;Haba, J.;Kim, Heejong;Inami, K.;Iijima, T.;Behari, S.;Ahn, Byoung Sup;Hara, K.;Kwon, Y. J.;Kang, J. S.;Miyabayashi, K.; Kobayashi, S.; Aulchenko, V.; Hayashii, H.; Matsubara, T.; Choi, Y.; RONG-SHYANG LU; Heenan, E. M.; Marlow, D.; Fukushima, M. |
| 臺大學術典藏 |
2019-09-09T00:41:46Z |
Observation of [Formula presented]
|
Jang, H. K.; Kim, H. O.; Kim, S. K.; Kim, T. H.; Handa, F.; Gershon, T.; Ban, Y.; Asano, Y.; Kawai, H.; Kawakami, Y.; Bra?ko, M.; Cheon, B. G.; Aso, T.; Brodzicka, J.; Fang, F.; Aushev, T.; Bay, A.; Garmash, A.; Choi, S. K.; RUEY-SHAN GUO; Hoshi, Y.; Kim, Hyunwoo; Leder, G.; Casey, B. C.K.; Chang, P.; Kumar, S.; Fukunaga, C.; Chistov, R.; Iwasaki, Y.; Drutskoy, A.; Inami, K.; Higuchi, T.; YUAN-HUNG CHAO; Bakich, A. M.; Hou, W. S.; Hastings, N. C.; Choi, Y.; Hara, T.; Hou, S. R.; Abe, T.; Itoh, R.; Kaneko, J.; Igaki, T.; Abe, K.; Hokune, T.; Iijima, T.; PAO-TI CHANG et al.; Bondar, A.;Hazumi, M.;Kim, Heejong;Jang, H. K.;Kim, H. O.;Kim, S. K.;Kim, T. H.;Handa, F.;Gershon, T.;Ban, Y.;Asano, Y.;Kawai, H.;Kawakami, Y.;Bra?ko, M.;Cheon, B. G.;Aso, T.;Brodzicka, J.;Fang, F.;Aushev, T.;Bay, A.;Garmash, A.;Choi, S. K.;RUEY-SHAN GUO;Hoshi, Y.;Kim, Hyunwoo;Leder, G.;Casey, B. C.K.;Chang, P.;Kumar, S.;Fukunaga, C.;Chistov, R.;Iwasaki, Y.;Drutskoy, A.;Inami, K.;Higuchi, T.;YUAN-HUNG CHAO;Bakich, A. M.;Hou, W. S.;Hastings, N. C.;Choi, Y.;Hara, T.;Hou, S. R.;Abe, T.;Itoh, R.;Kaneko, J.;Igaki, T.;Abe, K.;Hokune, T.;Iijima, T.; Kim, Heejong; Hazumi, M.; Bondar, A. |
Showing items 11-60 of 430 (9 Page(s) Totally)
1 2 3 4 5 6 7 8 9 > >>
View [10|25|50] records per page
|
