臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T04:16:19Z	Data Mining Techniques for Engineering Data Analysis: Issues and Solutions	RUEY-SHAN GUO;M. King;J. Wei;L. Hu;O. Ho;A. Hon;C. Fan;A. Chen; RUEY-SHAN GUO; M. King; J. Wei; L. Hu; O. Ho; A. Hon; C. Fan; A. Chen; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2018-09-10T04:16:19Z	Data Mining Techniques for Engineering Data Analysis: Issues and Solutions	RUEY-SHAN GUO;M. King;J. Wei;L. Hu;O. Ho;A. Hon;C. Fan;A. Chen; RUEY-SHAN GUO; M. King; J. Wei; L. Hu; O. Ho; A. Hon; C. Fan; A. Chen; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2018-09-10T03:51:25Z	Control System for VLSI Fabrication	RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2018-09-10T03:51:25Z	Control System for VLSI Fabrication	RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2018-09-10T03:51:25Z	Control System for VLSI Fabrication	RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2018-09-10T03:51:25Z	Data Mining and Fault Diagnosis based on Wafer Acceptance Test Data	RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2018-09-10T03:51:25Z	Data Mining and Fault Diagnosis based on Wafer Acceptance Test Data	RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2018-09-10T03:51:25Z	Data Mining and Fault Diagnosis based on Wafer Acceptance Test Data	RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2018	The strategic choice for applying government subsidized RD: The relationship among organizational resources and capabilities, strategy, and performance	Chen C.-J.;Guo R.-S.;Hsiao Y.-C.;Hu K.-K.; Chen C.-J.; Guo R.-S.; Hsiao Y.-C.; Hu K.-K.; RUEY-SHAN GUO
臺大學術典藏	2013-02	Partner Selection Model for Design Chain Collaboration	J. Chen; D. Chiang; R. Guo; MING-HUANG CHIANG; RUEY-SHAN GUO

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