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臺大學術典藏	2018-09-10T05:58:50Z	Hole confinement and 1/f noise characteristics of SiGe double-quantum-well p-Type metal-oxide-semiconductor field-effect transistors	Lin, Y.M.; San Lein, W.U.; Chang, S.J.; Chen, P.S.; Liu, C.W.; CHEE-WEE LIU

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