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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2019-10-05T00:08:40Z	Monte Carlo simulation of random dopant fluctuation in C-V characteristics using image charge model and adequately determined length scale	Chih-Wei, Yao; Sano, Nobuyuki; Watanabe, Hiroshi
國立交通大學	2019-04-02T06:00:48Z	Physics of Discrete Impurities under the Framework of Device Simulations for Nanostructure Devices	Sano, Nobuyuki; Yoshida, Katsuhisa; Yao, Chih-Wei; Watanabe, Hiroshi

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