|
English
|
正體中文
|
简体中文
|
总笔数 :2823515
|
|
造访人次 :
30388686
在线人数 :
1131
教育部委托研究计画 计画执行:国立台湾大学图书馆
|
|
|
"see yc"的相关文件
显示项目 1-4 / 4 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:43:06Z |
Novel chip standby current prediction model and ultrathin gate oxide scaling limit
|
Su, HD; Chiou, BS; Lu, PC; Chang, MH; Lee, KH; Chao, CP; See, YC; Sung, JYC |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:40:51Z |
A floating well method for exact capacitance-voltage measurement of nano technology
|
Su, HD; Chiou, BS; Wu, SY; Chang, MH; Lee, KH; Chen, YS; Chao, CP; See, YC; Sun, JYC |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:40:26Z |
Characteristics of oxide breakdown and related impact on device of ultrathin (2.2 nm) silicon dioxide
|
Su, HD; Chiou, BS; Wu, SY; Chang, MH; Lee, KH; Chen, YS; Cha, CP; See, YC; Sun, JYC |
| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:40:05Z |
Bi-mode breakdown test methodology of ultrathin oxide
|
Su, HD; Chiou, BS; Ko, CY; Wu, SY; Chang, MH; Lee, KH; Chen, YS; Chao, CP; See, YC; Sun, JYC |
显示项目 1-4 / 4 (共1页)
1
每页显示[10|25|50]项目
|
