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國立交通大學	2016-03-28T00:04:17Z	Impact of Quantum Capacitance on Intrinsic Inversion Capacitance Characteristics and Inversion-Charge Loss for Multigate III-V-on-Insulator nMOSFETs	Shen, Hsin-Hung; Shen, Shih-Lun; Yu, Chang-Hung; Su, Pin
國立交通大學	2015-11-26T00:55:07Z	量子電容對於三五族多閘極金氧半場效電晶體本質反轉層電容之影響	沈信宏; Shen, Hsin-Hung; 蘇彬; Su, Pin

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