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國立臺灣大學 1993-10 An analytical back gate bias dependent threshold voltage model for SiGe-channel ultra-thin SOI PMOS devices Kuo, J.B.; Tang, M.C.; Sim, J.H.
臺大學術典藏 1993-10 An analytical back gate bias dependent threshold voltage model for SiGe-channel ultra-thin SOI PMOS devices Kuo, J.B.; Tang, M.C.; Sim, J.H.; Kuo, J.B.; Tang, M.C.; Sim, J.H.; KuoJB
國立臺灣大學 1993-05 Accumulation-type vs. inversion-type of an ultra-thin SIO PMOS device operating at 300 K and 77 K: subthreshold behavior and pull-up switching performance of a CMOS inverter Kuo, J.B.; Sim, J.H.
臺大學術典藏 1993-05 Accumulation-type vs. inversion-type of an ultra-thin SIO PMOS device operating at 300 K and 77 K: subthreshold behavior and pull-up switching performance of a CMOS inverter Kuo, J.B.; Sim, J.H.; Kuo, J.B.; Sim, J.H.; KuoJB
國立臺灣大學 1992-10 Delayed-turn-on phenomenon in accumulation-type SOI pMOS device operating at liquid nitrogen temperature Kuo, J.B.; Sim, J.H.
臺大學術典藏 1992-10 Delayed-turn-on phenomenon in accumulation-type SOI pMOS device operating at liquid nitrogen temperature Kuo, J.B.; Sim, J.H.; Kuo, J.B.; Sim, J.H.; KuoJB

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