English  |  正體中文  |  简体中文  |  总笔数 :2875249  
造访人次 :  54219608    在线人数 :  964
教育部委托研究计画      计画执行:国立台湾大学图书馆
 		 
搜寻范围 进阶搜寻
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
关于TAIR
计画说明

浏览
典藏机构
作者
题名
日期
统计图表
机构即时统计
学术趋势

消息
2019臺灣學術機構典藏
研討會
機構典藏系統RC7版本已
發佈

著作权
出版社及期刊政策查询
TAIR著作权会议记录

相关连结
機構典藏計畫網站
ROAR
OpenDOAR
SHERPA
OAIster
JAIRO
Ira
DSPACE
RWWR
臺大學術典藏NTU Scholars
台湾机构典藏 TAIR >  依作者浏览

"t f young"的相关文件

回到依作者浏览
依题名排序 依日期排序

显示项目 46-55 / 58 (共6页)
<< < 1 2 3 4 5 6 > >>
每页显示[10|25|50]项目

机构 日期 题名 作者
國立中山大學 1996 Study on the IR-Photoluminescence in Si/Si1-xGex Quantum wells by FT-IR system T.F. Young;T.C. Chang;C.Y. Chang
國立中山大學 1995 The Novel Non-linear Dc Reponse of Ag Thin Films Deposited on Porpous Silicion: a Fractal Model Explanation T.F. Young; W.C. Kuo; I.M. Jiang; T.C. Chang; C.Y. Chang
國立中山大學 1995 The Novel Nonlinear DC Response of Ag Thin Films Deposited on Porous Silicon :A Fractal Model Explanation T.F. Young;W.C. Kuo;I.M. Jiang;T.C. Chang;C.Y. Chang
國立中山大學 1995 The novel nonlinear dc response of Ag thin films deposited on porous silicon: a fractal model explanation T.F. Young;W.C. Kuo;I.M. Jiang;T.C. Chang;C.Y. Chang
國立中山大學 1995 The Novel Nonlinear DC Response of Ag Thin Films Deposited on Porous Silicon: A Fractal Model Explanation T.F. Young;W.C. Kuo;I.M. Jiang;T.C. Chang;C.Y. Chang
國立中山大學 1995 Atomic Force Microscopy Study on the Surface Structure of Oxidized Porous Silicon T.F. Young;I.W. Huang;Y.L. Yang;W.C. Kuo;I.M. Jiang;T.C. Chang;C.Y. Chang
國立中山大學 1994 Tracer Diffuion of Oxygen in CoO-SiO2 Melts T.F. Young; J. Kieffer; G. Borchardt
國立中山大學 1994 Application of Kineic Model on Tracerr Diffusion of Silicon and Oxygen in Silicate melts T.F. Young; J. Kieffer; G. Borchardt
國立中山大學 1994 Nd:Yag Laser pumped Excitonic Optical Absorptions of InAlAs/InGaAs Quantum Wells T.F. Young;W.C. Kuo;S.L. Chuang
國立中山大學 1994 Study on Ag Thin Films Deposited on Porous Silicon T.F. Young;C.F. Liu;C.C. Wu;G.H. Fu;C.S. Chen

显示项目 46-55 / 58 (共6页)
<< < 1 2 3 4 5 6 > >>
每页显示[10|25|50]项目

DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT   &  Hewlett-Packard   /   Enhanced by   NTU Library IR team