臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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國立交通大學	2014-12-12T02:30:43Z	CMOS元件1/f雜訊特性分析與模擬	邱凱翎; Kai-Ling Chiu; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:30:42Z	LDMOS功率元件特性分析及可靠性研究	李兆琪; Chao Chi Lee; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:30:39Z	SONOS元件內儲存電子之能量分佈與傳輸行為	江欣凱; Hsin-Kai Chiang; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:30:38Z	積體電路元件中因氧化層漏電所引發可靠性問題的探討	鄒年凱; Niain-Kai Zous; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:28:17Z	研究及控制離子佈植產生缺陷所引發之異常擴散在0.13微米及以下元件設計上的應用	王志豪; Chih-Hao Wang; 汪大暉; Tahui wang
國立交通大學	2014-12-12T02:25:32Z	鐵電記憶元件特性量測與電路模擬	李學儀; Shyue-Yi Lee; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:25:32Z	氮化矽記憶元件可靠性量測與分析	古紹泓; Shau-Hong Ku; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:25:24Z	射頻CMOS雜訊數值模擬	張育造; Yu-Tsao Chang; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:24:20Z	氮化矽記憶體資料保存行為之數值分析模擬	許智維; Hsu Chih-Wei; 汪大暉; Tahui Wang
國立交通大學	2014-12-12T02:23:22Z	氮化矽快閃記憶體可靠性量測與分析	馬煥淇; Ma, Huan-chi; 汪大暉; Tahui Wang

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