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机构 日期 题名 作者
國立交通大學 2019-04-02T06:00:18Z Effects of base oxide thickness and silicon composition on charge trapping in HfSiO/SiO2 high-k gate stacks Wu, WH; Chen, MC; Tsui, BY; How, YT; Yao, LG; Jin, Y; Tao, HJ; Chen, SC; Liang, MS
國立交通大學 2019-04-02T06:00:17Z Electrical characteristics of thin HfO2 gate dielectrics prepared using different pre-deposition surface treatments Chen, CW; Chien, CH; Perng, TH; Yang, MJ; Liang, JS; Lehnen, P; Tsui, BY; Chang, CY
國立交通大學 2014-12-08T15:44:33Z Plasma charging damage during contact hole etch in high-density plasma etcher Tsui, BY; Lin, SS; Tsai, CS; Hsia, CC
國立交通大學 2014-12-08T15:43:49Z Dielectric and barrier properties of spin-on organic aromatic low dielectric constant polymers FLARE and SiLK Wu, ZC; Shiung, ZW; Wu, RG; Liu, YL; Wu, WH; Tsui, BY; Chen, MC; Chang, W; Chou, PF; Jang, SM; Hu, CH; Liang, MS
國立交通大學 2014-12-08T15:43:24Z Impact of silicide formation on the resistance of common source/drain region Tsui, BY; Wu, MD; Gan, TC
國立交通大學 2014-12-08T15:43:20Z Surface-processing-enhanced copper diffusion into fluorosilicate glass Tsui, BY; Fang, KL; Lee, SD
國立交通大學 2014-12-08T15:43:19Z Impact of interface nature on deep sub-micron Al-plug resistance Tsui, BY; Yang, TJ; Ku, TK
國立交通大學 2014-12-08T15:41:32Z Investigation of Cu/TaN metal gate for metal-oxide-silicon devices Tsui, BY; Huang, CF
國立交通大學 2014-12-08T15:41:16Z Wide range work function modulation of binary alloys for MOSFET application Tsui, BY; Huang, CF
國立交通大學 2014-12-08T15:41:01Z Investigation of Cu/TaN metal gate for metal-oxide-silicon devices (vol 150, pg G22, 2003) Tsui, BY; Huang, CF

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