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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T06:35:00Z	STI Mechanical Stress Induced Subthreshold Kink Effect of 40nm PD SOI NMOS Devices	J. B. kuo; M. Ma; C. T. Tsai; C. S. Yeh; D. Chen; JAMES-B KUO; I. Lin; V. Su
臺大學術典藏	2018-09-10T06:35:00Z	Influence of STI-induced mechnical stress in kink effect of 65nm PD SOI CMOS devices	I. Lin; V. Su; J. Kuo; R. Lee; G. Lin; D. Chen; C. Yeh; C. Tsai; M. Ma; JAMES-B KUO

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