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机构 日期 题名 作者
國立臺灣大學 1993 Feature Size Effects on Selective Area Epitaxy of InGaAs 王玉麟; Cotta, M. A.; Harriott, L. R.; Hamm, R. H.; Wade, H. H.; Weiner, J. S.; Ritter, D.; Temkin, H.; Wang, Yuh-Lin; Cotta, M. A.; Harriott, L. R.; Hamm, R. H.; Wade, H. H.; Weiner, J. S.; Ritter, D.; Temkin, H.
國立臺灣大學 1993 Nanofabrication on InP Using Focused Ion Beam Lithography and Chlorine Etching:Process and Control 王玉麟; Chu, C. H.; Hsieh, Y. F.; Harriott, L. R.; Wade, H. H.; Temkin, H.; Hamm, R. A.; Wang, Yuh-Lin; Chu, C. H.; Hsieh, Y. F.; Harriott, L. R.; Wade, H. H.; Temkin, H.; Hamm, R. A.
國立臺灣大學 1991 Nanometer Scale Focused Ion Beam Vacuum Lithography Using an Ultrathin Native Oxide Resist 王玉麟; Harriott, L. R.; Temkin, H.; Chu, C. H.; Hseih, Y. F.; Hamm, R. A.; Panish, M. B.; Wade, H. H.; Wang, Yuh-Lin; Harriott, L. R.; Temkin, H.; Chu, C. H.; Hseih, Y. F.; Hamm, R. A.; Panish, M. B.; Wade, H. H.

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