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機構	日期	題名	作者
東海大學	2007-04-15	Reliability and processing effects of bandgap engineered sonos (BE-SONOS) flash memory	Wang, S.-Y.?,?Lue, H.-T.,?Lai, E.-K.,?Yang, L.-W.,?Yang, T.,?Chen, K.-C.,?Gong, J.,?Hsieh, K.-Y.,?Liu, R.,?Lu, C.Y.

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