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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2019	Abnormal C-V Hump Effect Induced by Hot Carriers in Gate Length-Dependent p-Type LTPS TFTs	Huang, S.-P.;Shih, Y.-K.;Chung, Y.-H.;Chen, W.-H.;Wang, T.T.-J.;Zhang, S.-D.;Chang, T.-C.;Chen, P.-H.;Tsao, Y.-C.;Chen, H.-C.;Zheng, Y.-Z.;Chu, A.-K.;Shih, Y.-S.;Wang, Y.-X.;Wu, C.-C.

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