臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-13T10:30:06Z	奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(II)	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:29:52Z	奈米CMOS元件量子效應與電荷傳輸模擬及電性與可靠性分析(III)	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:29:48Z	次50奈米二位元儲存氮化矽快閃式記憶體元件之結構、電荷傳輸與可靠性研究	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:29:41Z	RF CMOS之特性量測、模式建立與可靠性研究	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:28:37Z	次50奈米二位元儲存氮化矽快閃式記憶體元件之結構、電荷傳輸與可靠性研究	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:28:34Z	單電荷與輻射效應在先進CMOS 和SONOS 元件可靠性之統計量測與模式	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-13T10:28:33Z	次32奈米CMOS元件可靠性分析、量子結構效應、與蒙地卡羅電荷傳輸模擬	汪大暉; WANG TAHUI
國立交通大學	2014-12-12T02:51:24Z	先進互補式金氧半電晶體及氮化矽快閃式記憶元件之可靠度分析和蒙地卡羅模擬	唐俊榮; Tang, Chun-Jung; 汪大暉; Wang, Tahui
國立交通大學	2014-12-12T02:47:19Z	超薄氧化層絕緣層上覆矽元件中軟式崩潰所引發之可靠性議題的探討	陳旻政; Chen, Min-Cheng; 汪大暉; Wang Tahui
國立交通大學	2014-12-12T02:33:39Z	高介電係數閘極電晶體之負偏壓溫度不穩定性引致臨界電壓改變量分佈之統計特性和模式	李啟偉; Li, Chi-Wei; 汪大暉; Wang, Tahui

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