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"wang tahui"
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| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:41:38Z |
電阻式記憶體循環操作後導致讀取干擾錯誤時間劣化之研究
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許峻齊; 汪大暉; Hsu , Chun-Chi; Wang, Tahui |
| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:38:02Z |
以氧化鎢電阻式記憶體探討影響寫入干擾錯誤時間變因之研究
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鍾季翰; 汪大暉; Chung, Chi-Han; Wang, TaHui |
| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:38:02Z |
氮化矽快閃記憶體的橫向電場引致內部儲存電荷傳輸之特性量測
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陳威郡; 汪大暉; Chen, Wei-Chun; Wang, Tahui |
| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:38:02Z |
氮化矽快閃記憶體的橫向電場引致內部儲存電荷傳輸之數值模擬
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楊宇翔; 汪大暉; 陳旻政; Yang, Yu-Siang; Wang, Tahui; Chen, Min-Cheng |
| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:37:13Z |
三維NAND快閃記憶體隨機電報雜訊之特性探討
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周佑亮; 汪大暉; Chou, You-Liang; Wang, Tahui |
| 國立交通大學 |
2018-01-24T07:36:25Z |
電阻式記憶體及SONOS快閃式記憶體中介電層缺陷造成之可靠度效應研究
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鍾岳庭; 汪大暉; Chung, Yueh-Ting; Wang, Tahui |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:56:32Z |
SET/RESET Cycling-Induced Trap Creation and SET-Disturb Failure Time Degradation in a Resistive-Switching Memory
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Chung, Yueh-Ting; Su, Po-Cheng; Lin, Wen-Jie; Chen, Min-Cheng; Wang, Tahui |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:56:17Z |
Electric Field Induced Nitride Trapped Charge Lateral Migration in a SONOS Flash Memory
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Liu, Yu-Heng; Jiang, Cheng-Min; Chen, Wei-Chun; Wang, Tahui; Tsai, Wen-Jer; Lu, Tao-Cheng; Chen, Kuang-Chao; Lu, Chih-Yuan |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:56:07Z |
Electric Field Induced Nitride Trapped Charge Lateral Migration in a SONOS Flash Memory
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Liu, Yu-Heng; Jiang, Cheng-Min; Chen, Wei-Chun; Wang, Tahui; Tsai, Wen-Jer; Lu, Tao-Cheng; Chen, Kuang-Chao; Lu, Chih-Yuan |
| 國立交通大學 |
2017-04-21T06:55:39Z |
Poly-Silicon Trap Position and Pass Voltage Effects on RTN Amplitude in a Vertical NAND Flash Cell String
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Chou, Y. L.; Wang, Tahui; Lin, Mercator; Chang, Y. W.; Liu, Lenvis; Huang, S. W.; Tsai, W. J.; Lu, T. C.; Chen, K. C.; Lu, Chih-Yuan |
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