| 國立交通大學 |
2014-12-08T15:29:34Z |
Improved measurement of electron antineutrino disappearance at Daya Bay
|
An, F. P.; An, Q.; Bai, J. Z.; Balantekin, A. B.; Band, H. R.; Beriguete, W.; Bishai, M.; Blyth, S.; Brown, R. L.; Cao, G. F.; Cao, J.; Carr, R.; Chan, W. T.; Chang, J. F.; Chang, Y.; Chasman, C.; Chen, H. S.; Chen, H. Y.; Chen, S. J.; Chen, S. M.; Chen, X. C.; Chen, X. H.; Chen, X. S.; Chen, Y.; Chen, Y. X.; Cherwinka, J. J.; Chu, M. C.; Cummings, J. P.; Deng, Z. Y.; Ding, Y. Y.; Diwan, M. V.; Draeger, E.; Du, X. F.; Dwyer, D.; Edwards, W. R.; Ely, S. R.; Fang, S. D.; Fu, J. Y.; Fu, Z. W.; Ge, L. Q.; Gill, R. L.; Gonchar, M.; Gong, G. H.; Gong, H.; Gornushkin, Y. A.; Gu, W. Q.; Guan, M. Y.; Guo, X. H.; Hackenburg, R. W.; Hahn, R. L.; Hans, S.; Hao, H. F.; He, M.; He, Q.; Heeger, K. M.; Heng, Y. K.; Hinrichs, P.; Hor, Y. K.; Hsiung, Y. B.; Hu, B. Z.; Hu, T.; Huang, H. X.; Huang, H. Z.; Huang, X. T.; Huber, P.; Issakov, V.; Isvan, Z.; Jaffe, D. E.; Jetter, S.; Ji, X. L.; Ji, X. P.; Jiang, H. J.; Jiao, J. B.; Johnson, R. A.; Kang, L.; Kettell, S. H.; Kramer, M.; Kwan, K. K.; Kwok, M. W.; Kwok, T.; Lai, C. Y.; Lai, W. C.; Lai, W. H.; Lau, K.; Lebanowski, L.; Lee, J.; Lei, R. T.; Leitner, R.; Leung, J. K. C.; Leung, K. Y.; Lewis, C. A.; Li, F.; Li, G. S.; Li, Q. J.; Li, W. D.; Li, X. B.; Li, X. N.; Li, X. Q.; Li, Y.; Li, Z. B.; Liang, H.; Lin, C. J.; Lin, G. L.; Lin, S. K.; Lin, Y. C.; Ling, J. J.; Link, J. M.; Littenberg, L.; Littlejohn, B. R.; Liu, D. W.; Liu, J. C.; Liu, J. L.; Liu, Y. B.; Lu, C.; Lu, H. Q.; Luk, A.; Luk, K. B.; Ma, Q. M.; Ma, X. B.; Ma, X. Y.; Ma, Y. Q.; McDonald, K. T.; McFarlane, M. C.; McKeown, R. D.; Meng, Y.; Mohapatra, D.; Nakajima, Y.; Napolitano, J.; Naumov, D.; Nemchenok, I.; Ngai, H. Y.; Ngai, W. K.; Nie, Y. B.; Ning, Z.; Ochoa-Ricoux, J. P.; Olshevski, A.; Patton, S.; Pec, V.; Peng, J. C.; Piilonen, L. E.; Pinsky, L.; Pun, C. S. J.; Qi, F. Z.; Qi, M.; Qian, X.; Raper, N.; Ren, J.; Rosero, R.; Roskovec, B.; Ruan, X. C.; Shao, B. B.; Shih, K.; Steiner, H.; Sun, G. X.; Sun, J. L.; Tagg, N.; Tam, Y. H.; Tanaka, H. K.; Tang, X.; Themann, H.; Torun, Y.; Trentalange, S.; Tsai, O.; Tsang, K. V.; Tsang, R. H. M.; Tull, C. E.; Tung, Y. C.; Viren, B.; Vorobel, V.; Wang, C. H.; Wang, L. S.; Wang, L. Y.; Wang, L. Z.; Wang, M.; Wang, N. Y.; Wang, R. G.; Wang, W.; Wang, X.; Wang, Y. F.; Wang, Z.; Wang, Z. M.; Webber, D. M.; Wei, H. Y.; Wei, Y. D.; Wen, L. J.; Whisnant, K.; White, C. G.; Whitehead, L.; Williamson, Y.; Wise, T.; Wong, H. L. H.; Worcester, E. T.; Wu, F. F.; Wu, Q.; Xi, J. B.; Xia, D. M.; Xing, Z. Z.; Xu, J.; Xu, J. L.; Xu, Y.; Xue, T.; Yang, C. G.; Yang, L.; Ye, M.; Yeh, M.; Yeh, Y. S.; Young, B. L.; Yu, Z. Y.; Zhan, L.; Zhang, C.; Zhang, F. H.; Zhang, J. W.; Zhang, Q. M.; Zhang, S. H.; Zhang, Y. C.; Zhang, Y. H.; Zhang, Y. X.; Zhang, Z. J.; Zhang, Z. P.; Zhang, Z. Y.; Zhao, J.; Zhao, Q. W.; Zhao, Y. B.; Zheng, L.; Zhong, W. L.; Zhou, L.; Zhou, Z. Y.; Zhuang, H. L.; Zou, J. H. |
