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機構	日期	題名	作者
國立高雄師範大學	2001	Temperature dependence of gate current and breakdown behaviors in an n(+)-GaAs/p(+)-InGaP/n(-)-GaAs high-barrier gate field-effect transistor	Jung-Hui Tsai;Kuo-Hui Yu;Kun-Wei Lin;Chin-Chuan Cheng;Wen-Lung Chan;Shiou-Ying Cheng;Wen-Chau Liu; 蔡榮輝

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