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机构	日期	题名	作者
義守大學	2013-02	The improved optoelectronic characterization in annealed Al/AZO layer after sputtering	Wen-Kuan Lin;Yi-Chuan Wang;Wei-Che Huang;Ze-Syue Wu;Ci-Sheng Cai;Yen-Sheng Lin;Werner P.Rehbach

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