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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2018	Drain-Induced-Barrier-Lowing-Like Effect Induced by Oxygen-Vacancy in Scaling-Down via-Contact Type Amorphous InGaZnO Thin-Film Transistors	Yang;Chung-I;Chang;Ting-Chang;Liao;Po-Yung;Chen;Li-Hui;Chen;Bo-Wei;Chou;Wu-Ching;Chen;Guan-Fu;Lin;Sung-Chun;Yeh;Cheng-Yen;Tsai;Cheng-Ming;Yu;Ming-Chang;Zhang;Shengdong
國立交通大學	2014-12-16T06:14:30Z	Process for manufacturing self-assembled nanoparticles	Chen; Wei-Kuo; Lee; Ming-Chih; Chou; Wu-Ching; Wen-Hsiung; Ke; Wen-Cheng

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