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機構	日期	題名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:12:13Z	Reliability mechanisms of LTPS-TFT with HfO2 gate dielectric: PBTI, NBTI, and hot-carrier stress	Ma, Ming-Wen; Chen, Chih-Yang; Wu, Woei-Cherrig; Su, Chun-Jung; Kao, Kuo-Hsing; Chao, Tien-Sheng; Lei, Tan-Fu

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