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机构	日期	题名	作者
國立成功大學	2024-12-18	Interfacial Electronic Charge Trapping and Photonic Carrier Excitation Coupling in Solution-Processed Zinc-Tin Oxide Thin-Film Transistors Applied for Logic Gate Design and Quantized Neural Network	Chang;Pei-Hsuan;Lin;Wun-Yun;Huang;Ya-Chi;Chen;Yu-Chieh;Shih;Li-Chung;Chen;Jen-Sue

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