臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:04Z	An On-Chip Integrator Leakage Characterization Technique and Its Applications to Switched Capacitor Circuits Testing	C.-Y. Yang;X.-L. Huang;J.-L. Huang; C.-Y. Yang; X.-L. Huang; J.-L. Huang; JIUN-LANG HUANG
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:03Z	A DfT Technique for Diagnosing Integrator Leakage of Single-Bit First-Order Delta-Sigma Modulator Using DC Input	X.-L. Huang;C.-Y. Yang;J.-L. Huang; X.-L. Huang; C.-Y. Yang; J.-L. Huang; JIUN-LANG HUANG
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:03Z	A DfT Technique for Diagnosing Integrator Leakage of Single-Bit First-Order Delta-Sigma Modulator Using DC Input	X.-L. Huang;C.-Y. Yang;J.-L. Huang; X.-L. Huang; C.-Y. Yang; J.-L. Huang; JIUN-LANG HUANG
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:03Z	Characterizing Integrator Leakage of Single-Bit DS Modulator Using DC Input	X.-L. Huang;Y.-C. Yu;J.-L. Huang; X.-L. Huang; Y.-C. Yu; J.-L. Huang; JIUN-LANG HUANG
臺大學術典藏	2018-09-10T07:43:03Z	Characterizing Integrator Leakage of Single-Bit DS Modulator Using DC Input	X.-L. Huang;Y.-C. Yu;J.-L. Huang; X.-L. Huang; Y.-C. Yu; J.-L. Huang; JIUN-LANG HUANG
臺大學術典藏	2018-09-10T06:03:14Z	A routability constrained scan chain ordering technique for test power reduction	X.-L. Huang; J.-L. Huang; JIUN-LANG HUANG

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