English  |  正體中文  |  简体中文  |  2814562  
???header.visitor??? :  27300486    ???header.onlineuser??? :  702
???header.sponsordeclaration???
 
臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)
???ui.leftmenu.abouttair???

???ui.leftmenu.bartitle???

???index.news???

???ui.leftmenu.copyrighttitle???

???ui.leftmenu.link???

"xie m j"???jsp.browse.items-by-author.description???

???jsp.browse.items-by-author.back???
???jsp.browse.items-by-author.order1??? ???jsp.browse.items-by-author.order2???

Showing items 1-6 of 6  (1 Page(s) Totally)
1 
View [10|25|50] records per page

Institution Date Title Author
臺大學術典藏 2019-03-11T08:01:16Z Physical thickness 1.x nm ferroelectric HfZrOx negative capacitance FETs Liu, C.W.;Chen, M.-C.;Li, K.-S.;Jong, C.-A.;Liu, S.-N.;Xie, M.-J.;Kuo, J.-Y.;Chen, H.-H.;Chou, Y.-C.;Chen, P.-G.;Tang, C.-H.;Fan, S.-T.;Lee, M.H.;Liao, M.-H.; Lee, M.H.; Fan, S.-T.; Tang, C.-H.; Chen, P.-G.; Chou, Y.-C.; Chen, H.-H.; Kuo, J.-Y.; Xie, M.-J.; Liu, S.-N.; Liao, M.-H.; Jong, C.-A.; Li, K.-S.; Chen, M.-C.; Liu, C.W.
臺大學術典藏 2019-03-11T08:01:16Z Physical thickness 1.x nm ferroelectric HfZrOx negative capacitance FETs Liu, C.W.;Chen, M.-C.;Li, K.-S.;Jong, C.-A.;Liu, S.-N.;Xie, M.-J.;Kuo, J.-Y.;Chen, H.-H.;Chou, Y.-C.;Chen, P.-G.;Tang, C.-H.;Fan, S.-T.;Lee, M.H.;Liao, M.-H.; Lee, M.H.; Fan, S.-T.; Tang, C.-H.; Chen, P.-G.; Chou, Y.-C.; Chen, H.-H.; Kuo, J.-Y.; Xie, M.-J.; Liu, S.-N.; Liao, M.-H.; Jong, C.-A.; Li, K.-S.; Chen, M.-C.; Liu, C.W.
臺大學術典藏 2019-03-11T08:01:13Z Prospects for ferroelectric HfZrOx FETs with experimentally CET=0.98nm, SSfor=42mV/dec, SSrev=28mV/dec, switch-off <0.2V, and hysteresis-free strategies Chen, M.-C.; Chen, M.-C.;Li, K.-S.;Tang, M.;Huang, S.-J.;Lee, J.-W.;Liu, S.-N.;Xie, M.-J.;Cheng, C.-C.;Chu, K.-Y.;Liu, C.;Chen, P.-G.;Lee, M.H.;Liao, M.-H.; Lee, M.H.; Chen, P.-G.; Liu, C.; Chu, K.-Y.; Cheng, C.-C.; Xie, M.-J.; Liu, S.-N.; Lee, J.-W.; Huang, S.-J.; Liao, M.-H.; Tang, M.; Li, K.-S.
臺大學術典藏 2019-03-11T08:01:13Z Prospects for ferroelectric HfZrOx FETs with experimentally CET=0.98nm, SSfor=42mV/dec, SSrev=28mV/dec, switch-off <0.2V, and hysteresis-free strategies Chen, M.-C.; Chen, M.-C.;Li, K.-S.;Tang, M.;Huang, S.-J.;Lee, J.-W.;Liu, S.-N.;Xie, M.-J.;Cheng, C.-C.;Chu, K.-Y.;Liu, C.;Chen, P.-G.;Lee, M.H.;Liao, M.-H.; Lee, M.H.; Chen, P.-G.; Liu, C.; Chu, K.-Y.; Cheng, C.-C.; Xie, M.-J.; Liu, S.-N.; Lee, J.-W.; Huang, S.-J.; Liao, M.-H.; Tang, M.; Li, K.-S.
臺大學術典藏 2019-03-11T08:01:12Z Simulation-based study of negative-capacitance double-gate tunnel field-effect transistor with ferroelectric gate stack Lee, M.-H.;Chen, P.-S.;Lee, H.-Y.;Chen, Y.-S.;Liu, S.;Huang, S.-J.;Lee, J.-W.;Liu, S.-N.;Xie, M.-J.;Chen, P.-G.;Liu, C.;Liao, M.-H.; Liu, C.; Chen, P.-G.; Xie, M.-J.; Liu, S.-N.; Lee, J.-W.; Huang, S.-J.; Liu, S.; Chen, Y.-S.; Lee, H.-Y.; Liao, M.-H.; Chen, P.-S.; Lee, M.-H.
臺大學術典藏 2019-03-11T08:01:12Z Simulation-based study of negative-capacitance double-gate tunnel field-effect transistor with ferroelectric gate stack Lee, M.-H.;Chen, P.-S.;Lee, H.-Y.;Chen, Y.-S.;Liu, S.;Huang, S.-J.;Lee, J.-W.;Liu, S.-N.;Xie, M.-J.;Chen, P.-G.;Liu, C.;Liao, M.-H.; Liu, C.; Chen, P.-G.; Xie, M.-J.; Liu, S.-N.; Lee, J.-W.; Huang, S.-J.; Liu, S.; Chen, Y.-S.; Lee, H.-Y.; Liao, M.-H.; Chen, P.-S.; Lee, M.-H.

Showing items 1-6 of 6  (1 Page(s) Totally)
1 
View [10|25|50] records per page