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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-12T02:11:09Z	以光調制反射光譜技術量測砷化鎵薄膜的特性及砷化鎵/砷化鎵鋁量子線的研製	謝獻堂; XIE, XIAN-TANG; 楊賜麟; YANG, CI-LIN

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