臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
南台科技大學	2005-08	An Effective Method to Improve the Sensitivity of Deep Submicrometer CMOS Image Sensors	T. H. Hsu; Y. K. Fang; D. N. Yaung; J. S. Lin; S. G. Wuu; H. C. Chien; C. H. Tseng; C. S. Wang; S. F. Chen; C. Y. Lin; C. S. Lin; T. H. Chou;陳世芳
南台科技大學	2005-08	Investigation of structure and properties of nanocrystalline silicon on various buffer layers	C. Y. Lin; Y. K. Fang; S. F. Chen; C. S. Lin; T. H. Chou; S. B. Hwang; J. S. Hwang; K. I. Lin;陳世芳
南台科技大學	2005-08	A Novel Ni Capped High Q Copper Air Gap Spiral Inductor	C. S. Lin; Y. K. Fang; S. F. Chen; C. Y. Lin; T. H. Chou; S. M. Chen; M. C. Hsieh;陳世芳
南台科技大學	2005-04	The effect of doping iodine on organic light-emitting diode	S. F. Chen; Y. K. Fang; S. C. Hou; C. Y. Lin; C. S. Lin; W. R. Chang,; T. H. Chou;陳世芳
南台科技大學	2005-03	A deep submicrometer CMOS process compatible high-Q air-gap solenoid inductor with laterally laid structure	C. S. Lin; Y. K. Fang; S. F. Chen; C. Y. Lin; M. C. Hsieh; C. M. Lai; T. H. Chou; C. H. Chen;陳世芳
南台科技大學	2005	Color mixing improvement of CMOS image sensor with air-gap-guard ring in deep-submicrometer CMOS technology	T. H. Hsu; Y. K. Fang; D. N. Yaung; S. G. Wuu; H. C. Chien; C. S. Wang; J. S. Lin; C. H. Tseng; S. F. Chen; C. S. Lin; C. Y. Lin
南台科技大學	2005	Reliability studies of Hf-doped and NH3-nitrided gate dielectric for advanced CMOS application	C. W. Yang; Y. K. Fang; S. F. Chen; C. S. Lin; C. Y. Lin; W. D. Wang; T. H. Chou; P. J. Lin; M. F. Wang; T. H. Hou; L. G. Yao; S. C. Chen; M. S. Liang;陳世芳;陳順智
南台科技大學	2004-06	Dramatic Reduction of Optical Crosstalk in Deep-Submicrometer CMOS Imager with Air Gap Guard Ring	T. H. Hsu; Y. K. Fang; D. N. Yaung; S. G. Wuu; H. C. Chien; C. S. Wang; J. S. Lin; C. H. Tseng; S. F. Cnen; C. S. Lin; C. Y. Lin
南台科技大學	2004-01	Ligth Guide for Pixel Crosstalk Improvement in Deep Submicrom CMOS image Sensor	T. H. Hsu; Y. K. Fang; C. Y. Lin; S. F. Cnen; C. S. Lin; D. N. Yaung; S. G. Wuu; H. C. Chien; C. H. Tseng; J. S. Lin; C. S. Wang
南台科技大學	2004	The Mechanism and Evaluation of Hot-Carrier-Induced Performance Degradation in 0.18-um CMOS Image Sensor	T. H. Hsu; Y. K. Fang; D. N. Yaung; S. G. Wuu; H. C. Chien; C. S. Wang; J. S. Lin; C. H. Tseng; S. F. Cnen; C. S. Lin; C. Y. Lin

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