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机构	日期	题名	作者
國立交通大學	2014-12-08T15:15:12Z	New understanding of metal-insulator-metal (MIM) capacitor degradation behavior	Hung, Chi-Chao; Oates, Anthony S.; Lin, H. C.; Chang, Percy; Wang, J. L.; Huang, C. C.; Yau, Y. W.

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