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機構 日期 題名 作者
國立高雄應用科技大學 2017 不同封膠、電漿功率與濺鍍薄膜厚度對封裝層的表面特性影響 葉冠麟; YEH, KUAN-LIN
中山醫學大學 2017 排隊美食行為因素之研究-以台中大專校院學生為例 葉冠麟; Yeh, Kuan-Lin
國立交通大學 2014-12-08T15:25:06Z Process induced instability and reliability issues in low temperature poly-Si thin film transistors Chen, Chih-Yang; Wang, Shen-De; Shieh, Ming-Shan; Chen, Wei-Cheng; Lin, Hsiao-Yi; Yeh, Kuan-Lin; Lee, Jam-Wen; Lei, Tan-Fu
國立交通大學 2014-12-08T15:15:31Z Plasma damage-enhanced negative bias temperature instability in low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistors Chen, Chih-Yang; Lee, Jam-Wem; Chen, Wei-g Chen; Lin, Hsiao-Yi; Yeh, Kuan-Lin; Lee, Po-Hao; Wang, Shen-De; Lei, Tan-Fu
國立交通大學 2014-12-08T15:15:10Z Plasma-induced damage on the performance and reliability of low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistors Chen, Chih-Yang; Wang, Shen-De; Shieh, Ming-Shan; Chen, Wei-Cheng; Lin, Hsiao-Yi; Yeh, Kuan-Lin; Lee, Jam-Wem; Lei, Tan-Fu
國立交通大學 2014-12-08T15:15:06Z Bias temperature instabilities for low-temperature polycrystalline silicon complementary thin-film transistors Chen, Chih-Yang; Lee, Jam-Wem; Ma, Ming-Wen; Chen, Wei-Cheng; Lin, Hsiao-Yi; Yeh, Kuan-Lin; Wang, Shen-De; Lei, Tan-Fu
國立交通大學 2014-12-08T15:14:11Z A reliability model for low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistors Chen, Chih-Yang; Lee, Jam-Wem; Lee, Po-Hao; Chen, Wei-Cheng; Lin, Hsiao-Yi; Yeh, Kuan-Lin; Ma, Ming-Wen; Wang, Shen-De; Lei, Tan-Fu
國立交通大學 2014-12-08T15:12:39Z Analysis of negative bias temperature instability in body-tied low-temperature polycrystalline silicon thin-film transistors Chen, Chih-Yang; Ma, Ming-Wen; Chen, Wei-Cheng; Lin, Hsiao-Yi; Yeh, Kuan-Lin; Wang, Shen-De; Lei, Tan-Fu
國立交通大學 2014-12-08T15:11:26Z Dynamic negative bias temperature instability in low-temperature poly-Si thin-film transistors Chen, Chih-Yang; Wang, Tong-Yi; Ma, Ming-Wen; Chen, Wei-Cheng; Lin, Hsiao-Yi; Yeh, Kuan-Lin; Wang, Shen-De; Lei, Tan-Fu
國立臺灣大學 2007 低頻事前輻射轉移計算用於動畫模型之參數壓縮 葉冠麟; Yeh, Kuan-Lin
東海大學 2004 音樂會樂曲解說 葉冠麟; Yeh, Kuan-Lin

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