臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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机构	日期	题名	作者
淡江大學	2025-03-24T04:05:15Z	A New Multiple Dependent State Sampling Plan Based on One-Sided Process Capability Indices	Yen, Ching-ho
淡江大學	2023-11-28	Asymmetric Impact of Inverted Yield Curve, FRAC Spread Count, and Billings Trends for Semiconductor Equipment Manufacturers on SOX Index	Yen, Ching-ho
淡江大學	2020-01-20	A Rectifying Acceptance Sampling Plan Based on the Process Capability Index	Yen, Ching-ho
國立交通大學	2014-12-08T15:21:23Z	Production yield measure for multiple characteristics processes based on S-pk(T) under multiple samples	Pearn, W. L.; Yen, Ching-Ho; Yang, Dong-Yuh

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